[发明专利]一种存储设备及其测试方法、测试系统

权利要求书

1.一种存储设备的测试方法，其特征在于，至少包括：

提供一存储设备，并根据存储信息的种类，在所述存储设备中建立数据区域、系统块区域和坏块表映射区域；

对所述数据区域进行第一读写测试，并根据所述第一读写测试的结果，在所述数据区域中建立第一坏块区域和工作块区域；

调节所述存储设备的时序信息，并获取所述工作块区域的读写错误信息，根据所述读写错误信息，重复调谐所述存储设备的读写参数信息；

根据所述读写参数信息，对所述工作块区域和所述系统块区域进行第二读写测试，并根据第二读写测试的结果，在所述工作块区域和所述系统块区域内标记出第二坏块区域；以及

获取所述第一坏块区域和所述第二坏块区域的坏块信息，并将所述坏块信息记录于所述坏块表映射区域。

2.根据权利要求1所述的一种存储设备的测试方法，其特征在于，调谐所述存储设备的读写参数的步骤包括：

以单倍数据速率对所述工作块区域写入数据，再以双倍数据速率从所述工作块区域读出数据；以及

根据读写数据产生的错误校正码，校正读取阶段的时序信息，获得最优读取时序信息。

3.根据权利要求2所述的一种存储设备的测试方法，其特征在于，调谐所述存储设备的读写参数的步骤包括：

调整所述存储设备的时序信息为最优读取时序信息，并以双倍数据速率向所述工作块区域写入数据；

从所述工作块区域读出数据，并根据读写数据产生的错误校正码，校正写入阶段的时序信息，获得最优写入时序信息。

4.根据权利要求1所述的一种存储设备的测试方法，其特征在于，在重复调谐所述存储设备的读写参数信息后，搜寻所述存储设备中存储块的结果页，在所述坏块映射表区域建立坏块映射表，所述坏块映射表包括所述第一坏块区域的坏块地址和坏块信息。

5.根据权利要求1所述的一种存储设备的测试方法，其特征在于，所述第一读写测试的步骤包括：

提供多个预设数据，按照所述预设数据从大到小的顺序，将所述预设数据写入所述工作块区域，至写满所述工作块区域；以及

读出所述预设数据，并记录读写数据过程产生的错误校正码。

6.根据权利要求1所述的一种存储设备的测试方法，其特征在于，在建立所述坏块映射表后，在所述第二读写测试前，对所述存储设备进行预测试。

7.根据权利要求1所述的一种存储设备的测试方法，其特征在于，所述第二读写测试的步骤包括：

擦除待测存储块的存储信息；

对所述待测存储块的全部存储页写入数据；以及

读取所述待测存储块的全部存储页。

8.根据权利要求1所述的一种存储设备的测试方法，其特征在于，标记所述第二坏块区域的步骤包括：

编辑系统块区域的逻辑地址，在系统块区域建立第一测试部和第二测试部；

对所述第一测试部和所述第二测试部进行第二读写测试；以及

根据所述第二读写测试过程中的误差校正码，标记并替换所述系统块区域的坏块。

9.根据权利要求8所述的一种存储设备的测试方法，其特征在于，标记所述第二坏块区域的步骤包括：在第二读写测试的过程中，将所述第一测试部和所述第二测试部的存储信息互相备份存储。

10.根据权利要求8所述的一种存储设备的测试方法，其特征在于，建立所述第一测试部和所述第二测试部的步骤包括：

编辑所述系统块区域的逻辑地址，使所述第一测试部和所述第二测试部包括同等数量的参数块、代码块和上电复位数据存储块。