[发明专利]一种高速碳基工业以太网芯片通信速率测试方法在审
申请号: | 202210583294.X | 申请日: | 2022-05-26 |
公开(公告)号: | CN114916002A | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
发明(设计)人: | 范晶;王龙;宋宁宁;任畅;王怡;黎佳能;赵城 | 申请(专利权)人: | 中国电子信息产业集团有限公司第六研究所 |
主分类号: | H04W24/08 | 分类号: | H04W24/08;H04L43/0829;H04L43/0852;H04L43/50 |
代理公司: | 北京绘聚高科知识产权代理事务所(普通合伙) 11832 | 代理人: | 汪帆 |
地址: | 102200 北京市昌平*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高速 工业 以太网 芯片 通信 速率 测试 方法 | ||
1.一种高速碳基工业以太网芯片通信速率测试方法,其特征在于,包括:
利用网络速率调整系统同时对多个分布式测试终端的端口进行限速设置,对当前的多个分布式测试终端的端口传输速度同时进行限速控制;
同时构建控制端口传输速度从1Gb/S逐渐上升调整至10Gb/S的测试条件,实时测试主机上的碳基芯片与测试终端上的控制芯片在不同端口传输速率下的进行测试以及获取所述碳基芯片的通信性能指标信息;
根据不同端口传输速率下的碳基芯片的通信性能指标信息确定碳基芯片影响的工业以太网传输性能;所述通信性能指标信息包括通信响应时延、数据丢包率,数据传输成功率。
2.根据权利要求1所述的一种高速碳基工业以太网芯片通信速率测试方法,其特征在于,所述根据不同端口传输速率下的碳基芯片的通信性能指标信息确定碳基芯片影响的工业以太网传输性能,包括如下操作步骤:
获取端口传输速度不断上升情况下该碳基芯片的通信性能指标信息,分析判断该当前每个碳基芯片中的数据丢包率是否超过标准阈值参数;
如果判定当前碳基芯片超过标准阈值参数的芯片数量与总碳基芯片占比超过标准比例,则判定当前碳基芯片的数据丢包指标不合格,确定当前碳基芯片对工业以太网传输性能的传输性能产生消极影响。
3.根据权利要求1所述的一种高速碳基工业以太网芯片通信速率测试方法,其特征在于,所述根据不同端口传输速率下的碳基芯片的通信性能指标信息确定碳基芯片影响的工业以太网传输性能,还包括对误码率进行测试处理:
在端口传输速度不断上升情况下由碳基芯片向多个测试终端上的控制芯片发送带有伪随机序列的预设测试帧;
多个测试终端上的控制芯片分别同时接收预设测试帧,并且产生的伪随机序列;
将碳基芯片发送的预设测试帧中的伪随机序列与控制芯片产生的伪随机序列进行比特同步,检测出错误,计算出误码率;如果该出误码率高于误码率标准阈值,则判定当前碳基芯片对于工业以太网传输性能产生不可靠影响。
4.根据权利要求3所述的一种高速碳基工业以太网芯片通信速率测试方法,其特征在于,利用网络速率调整系统同时对多个分布式测试终端的端口进行限速设置,对当前的多个分布式测试终端的端口传输速度同时进行限速控制,具体包括如下步骤:
设置测试主机为测试主站点,利用网络速率调整系统对当前各个多个分布式测试终端对应的端口进行限速设置。
5.根据权利要求4所述的一种高速碳基工业以太网芯片通信速率测试方法,其特征在于,在根据不同端口传输速率下的碳基芯片的通信性能指标信息确定碳基芯片影响的工业以太网传输性能执行步骤之后,还包括对碳基芯片的可靠性通信指标进行测试,具体包括如下步骤:
在当前恒定的端口传输速度条件下,在预设时间周期内控制当前碳基芯片向测试终端发送大量数据传输帧;所述数据传输帧包括延迟测试帧;
对当前延迟测试帧进行标记信息,按照预设的延迟测试帧的数据传输速率,确定读取每个测试终端所接收的延迟测试帧所需的理论读取时间;
根据标记信息识别当前的延迟测试帧的实际读取时间,将读取所用的实际读取时间与理论读取时间进行比对,将接收时间不在标准阈值范围内的延迟测试帧判定为延迟帧;根据所述预设时间周期内的延迟帧的数量计算单位时间内的延迟帧数,
将单位时间内的延迟帧数作为第一测试结果;对于没有接收识别到的延迟测试帧判定为丢包进行判断,计算所述预设时间周期内的平均丢包率,将其作为第二测试为结果;
根据第一测试结果与最低延迟帧阈值的关系进行判断,如果当前平均丢包率低于丢包率阈值,则判定当前碳基芯片的第一测试结果合格;
根据第二测试结果与丢包率阈值的关系,如果当前平均丢包率低于丢包率阈值,则判定当前碳基芯片的第二测试结果为合格。
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