[发明专利]一种高速碳基工业以太网芯片通信速率测试方法

说明书

本发明实施例公开了一种高速碳基工业以太网芯片通信速率测试方法，包括：利用网络速率调整系统同时对多个分布式测试终端的端口进行限速设置，对当前的多个分布式测试终端的端口传输速度同时进行限速控制；同时构建控制端口传输速度从1Gb/S逐渐上升调整至10Gb/S的测试条件，实时测试主机上的碳基芯片与测试终端上的控制芯片在不同端口传输速率下的进行测试以及获取碳基芯片的通信性能指标信息；根据不同端口传输速率下的碳基芯片的通信性能指标信息确定碳基芯片影响的工业以太网传输性能；本发明提供的测试方法能够积极针对不同端口传输速率下碳基芯片对工业以太网传输性能以及质量等进行测试以探索其安全可靠性。

技术领域

本发明涉及通信芯片技术领域，尤其涉及一种高速碳基工业以太网芯片通信速率测试方法。

背景技术

研究发现，目前用于工业以太网中的控制系统所采用的通信芯片大多为传统的硅基通信芯片；

然而进一步的研究发现，基于硅基通信芯片技术在高速率、低功耗设计方面已经到了发展瓶颈，碳基电子学器件相比传统硅基器件具有5-10倍的速率提升和超低功耗的基因优势，因此发展碳基高速以太网芯片在控制领域具有重大意义。综上所述，上述硅基芯片具有速率提高，功耗会消耗大，对于小型设备并不适应。

随后研究人员为了适应更高速的更快捷的通信要求在当前小型控制系统(或称控制现场)中设计采用了碳基通信芯片进行替代；在替代之后，则需要构建一种测试系统以及测试方式从而实现对基于碳基芯片构建的当前以太网工业的控制系统的实时性以及传输可靠性进行测试。但是目前仍然没有这种测试技术手段。

综上所述，目前急需一种高效可靠的高速碳基工业以太网芯片通信速率测试方法。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提出一种高速碳基工业以太网芯片通信速率测试方法，用以解决背景技术中指出的问题。

本发明的一实施例提出一种高速碳基工业以太网芯片通信速率测试方法，包括：

利用网络速率调整系统同时对多个分布式测试终端的端口进行限速设置，对当前的多个分布式测试终端的端口传输速度同时进行限速控制；

同时构建控制端口传输速度从1Gb/S逐渐上升调整至10Gb/S的测试条件，实时测试主机上的碳基芯片与测试终端上的控制芯片在不同端口传输速率下的进行测试以及获取所述碳基芯片的通信性能指标信息；

根据不同端口传输速率下的碳基芯片的通信性能指标信息确定碳基芯片影响的工业以太网传输性能；所述通信性能指标信息包括通信响应时延、数据丢包率，数据传输成功率。

作为一种可选的实施方式，所述根据不同端口传输速率下的碳基芯片的通信性能指标信息确定碳基芯片影响的工业以太网传输性能，包括如下操作步骤：

获取端口传输速度不断上升情况下该碳基芯片的通信性能指标信息，分析判断该当前每个碳基芯片中的数据丢包率是否超过标准阈值参数；

如果判定当前碳基芯片超过标准阈值参数的芯片数量与总碳基芯片占比超过标准比例，则判定当前碳基芯片的数据丢包指标不合格。

作为一种可选的实施方式，所述根据不同端口传输速率下的碳基芯片的通信性能指标信息确定碳基芯片影响的工业以太网传输性能，还包括对误码率进行测试处理：

在端口传输速度不断上升情况下由碳基芯片向多个测试终端上的控制芯片发送带有伪随机序列的预设测试帧；

多个测试终端上的控制芯片分别同时接收预设测试帧，并且产生的伪随机序列；

将碳基芯片发送的预设测试帧中的伪随机序列与控制芯片产生的伪随机序列进行比特同步，检测出错误，计算出误码率；如果该出误码率高于误码率标准阈值，则判定当前碳基芯片对于工业以太网传输性能产生不可靠影响。