[发明专利]体积测量方法、装置、设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种体积测量设备，其特征在于，包括载物装置、温控装置、红外成像装置和处理装置，所述温控装置和所述红外成像装置位于所述载物装置的同一侧，其中，

所述温控装置，用于向承载在载物装置上的待测目标的第一表面喷射目标温度的气流；

所述红外成像装置，用于获取吸收所述气流的温度后的所述第一表面的第一红外成像数据；

所述处理装置，用于根据所述第一红外成像数据得到所述第一表面的尺寸数据；

所述处理装置还用于根据所述第一表面的所述尺寸数据，得到所述待测目标的体积数据；

所述处理装置还用于控制所述温控装置与所述载物装置的载物面产生相对移动；

所述温控装置具体用于通过与所述载物装置的载物面的相对移动在所述第一表面的多个位置喷射所述目标温度的气流；

所述红外成像装置具体用于在所述温控装置与所述载物装置的载物面的相对移动停止后，获取吸收所述气流的温度后的所述第一表面的所述第一红外成像数据；或者，

所述红外成像装置具体用于获取吸收所述气流的温度后的所述多个位置对应的多个红外成像数据，并根据所述多个红外成像数据得到所述第一红外成像数据；

所述处理装置还用于确定所述目标温度，并向所述温控装置输出控制指令，所述控制指令用于指示所述目标温度；

所述红外成像装置还用于获取所述待测目标所在方向的红外图像，并向所述处理装置输出第二红外成像数据，所述第二红外成像数据包括所述红外图像中的温度数据；

所述处理装置具体用于根据所述第二红外成像数据，确定所述目标温度，其中，所述红外图像中所述目标温度对应的像素点在所述红外图像中的比例小于或等于预设阈值；

若所述温控装置的排气口平面的面积小于所述待测目标的第一表面，所述温控装置具体还用于通过沿垂直于所述载物装置的载物面的方向移动，且在移动方向上的多个位置向该待测目标的第一表面喷射目标温度的气流直至覆盖该待测目标的第一表面；和/或所述温控装置具体还用于通过沿平行于所述载物装置的载物面的方向移动，且在移动方向上的多个位置向该待测目标的第一表面喷射目标温度的气流直至覆盖该待测目标的第一表面；

所述载物装置包括轴体，用于通过所述轴体的转动带动所述载物装置的载物面转动，所述处理装置还用于根据多个不同表面的红外成像数据得到多个表面的尺寸数据，根据所述多个表面的尺寸数据，得到所述待测目标的体积数据。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备还包括采集装置，所述采集装置，用于采集所述待测目标的目标温控信息；

所述处理装置还用于根据对应关系和所述目标温控信息，确定所述目标温度，其中，所述对应关系中多个温控信息与多个温度相对应，所述多个温控信息包括所述目标温控信息，且所述目标温度与所述目标温控信息相对应。

3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述处理装置还用于：

获取所述待测目标的形状特征信息；

基于所述待测目标的形状特征信息，确定基于所述待测目标的一个或多个表面的尺寸数据得到所述待测目标的体积数据，所述一个或多个表面包括所述第一表面。

4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述处理装置具体用于基于测量得到的所述待测目标的至少一个表面的尺寸数据，获取所述形状特征信息；或者，所述处理装置具体用于从采集装置获取所述形状特征信息。

5.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述处理装置还用于控制所述载物装置与所述红外成像装置产生相对移动，并获取除所述第一表面以外的所述待测目标的至少一个表面的尺寸数据。