[发明专利]半导体器件在审
申请号: | 202210585531.6 | 申请日: | 2022-05-26 |
公开(公告)号: | CN115662991A | 公开(公告)日: | 2023-01-31 |
发明(设计)人: | 赵珉熙;柳民泰;柳成原;李元锡;朴玄睦;李基硕 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/088 | 分类号: | H01L27/088;H01L21/8234;H10B12/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 马晓蒙 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
可以提供一种半导体器件,该半导体器件包括:在基板上的导电线;在导电线上的第一栅电极;在第一栅电极上通过栅极隔离绝缘层分隔开的第二栅电极;在第一栅电极的侧表面上的第一沟道层,并且第一栅极绝缘层在它们之间;在第一栅电极的另一侧表面上的第一源极/漏极区;第二沟道层,在第二栅电极的在与第一沟道层相反的一侧的另一侧表面上并且第二栅极绝缘层在它们之间;在第二沟道层上的第二源极/漏极区;以及第三源极/漏极区,在第一沟道层上以及在第二栅电极的与第一沟道层在同一侧的侧表面上。
技术领域
本发明构思涉及半导体器件,更具体地,涉及具有垂直沟道晶体管(VCT)的半导体器件。
背景技术
半导体器件(或集成电路器件)可以包括多个晶体管。随着半导体产业的发展,包括晶体管的半导体器件正变得高度集成,即小型化。高度集成的半导体器件需要垂直提供在半导体基板上的垂直沟道晶体管(VCT),而不是平面地提供在半导体基板上的平面沟道晶体管。可能难以形成具有高可靠性的垂直沟道晶体管(VCT)。
发明内容
本发明构思提供包括高可靠性垂直沟道晶体管(VCT)的半导体器件。
根据本发明构思的一示例实施方式,一种半导体器件可以包括:在基板上的导电线;在导电线上的第一栅电极;在第一栅电极上的第二栅电极,第二栅电极通过栅极隔离绝缘层与第一栅电极分隔开;在第一栅电极的第一侧表面上的第一沟道层,并且第一栅极绝缘层插置在它们之间;在第一栅电极的第二侧表面上的第一源极/漏极区;在第二栅电极的第三侧表面上的第二沟道层,并且第二栅极绝缘层插置在它们之间,第三侧表面与第一侧表面相反;在第二沟道层上的第二源极/漏极区;以及在第一沟道层上和在第二栅电极的第四侧表面上的第三源极/漏极区,第四侧表面与第一沟道层在同一侧。
根据本发明构思的另一方面,一种半导体器件可以包括:在基板上的导电线;在导电线上在器件隔离沟槽中的第一栅电极;在器件隔离沟槽中在第一栅电极上的第二栅电极,第二栅电极通过栅极隔离绝缘层与第一栅电极分隔开;在器件隔离沟槽的底表面和第一隔离侧表面上的第一沟道层,第一沟道层在第一栅电极的第一栅极侧表面上并且第一栅极绝缘层插置在它们之间;在器件隔离沟槽的第二隔离侧表面上的第一源极/漏极区,第一源极/漏极区在第一栅电极的第二栅极侧表面上;在器件隔离沟槽的第二隔离侧表面上的第二沟道层,第二沟道层在第二栅电极的第三栅极侧表面上并且第二栅极绝缘层插置在它们之间,第三栅极侧表面是第一栅极侧表面的相反侧;在器件隔离沟槽的第二隔离侧表面上和在第二沟道层上的第二源极/漏极区;以及在器件隔离沟槽的第一隔离侧表面上的第三源极/漏极区,第三源极/漏极区在第二栅电极的第四栅极侧表面上,第四栅极侧表面与第一沟道层在同一侧,并且第三源极/漏极区在第一沟道层上。
根据本发明构思的另一方面,一种半导体器件可以包括:在基板上在第一方向上延伸的第一导电线;在第一导电线上并在垂直于第一方向的第二方向上延伸的第二导电线,第二导电线包括第一子栅线和第二子栅线,第一子栅线包括第一栅电极,第二子栅线包括第二栅电极,第二栅电极通过栅极隔离绝缘层与第一栅电极分隔开;在第二导电线的第一侧的第一垂直沟道晶体管;以及在第二导电线的第二侧的第二垂直沟道晶体管。第一垂直沟道晶体管可以包括:第一沟道层,在第一栅电极的第一栅极侧表面上并且第一栅极绝缘层插置在它们之间;第三源极/漏极区,在第一沟道层上和在第二栅电极的第一栅极侧表面上,第二栅电极的第一栅极侧表面与第一沟道层在同一侧。第二垂直沟道晶体管可以包括:第二沟道层,在第二栅电极的第二栅极侧表面上并且第二栅极绝缘层插置在它们之间,第二栅电极的第二栅极侧表面与第一沟道层相反;在第一栅电极的第二栅极侧表面上的第一源极/漏极区;以及在第二沟道层上的第二源极/漏极区。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210585531.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的