[发明专利]一种继电器多性能综合测试方法

权利要求书

1.一种继电器多性能综合测试方法，其特征在于，具体方法包括：

步骤一：获取需要检测的继电器种类，进行继电器检测工位布局，获得工位布局图；

步骤二：根据工位布局图配置对应的负载电源，建立继电器检测台；

步骤三：根据继电器检测台具备的检测项目编制联合检测方案；

步骤四：设置控制模块，通过控制模块完成对检测工位上继电器的检测，获得对应的检测数据。

2.根据权利要求1所述的一种继电器多性能综合测试方法，其特征在于，进行继电器检测工位布局的方法包括：

将需要进行检测的继电器种类标记为目标设备，获取目标设备的特性坐标，将特性坐标分布到坐标系中；基于K-means聚类算法进行特性坐标聚类，将属于同一聚类的特性坐标标记为共性坐标，将共性坐标对应的目标设备进行整合并标记为检测分类，为每个检测分类设置对应的分类特性，计算检测分类的分类值，将分类特性和分类值整合为单一分类分析数据，建立布局模型，将所有的单一分类分析数据输入到布局模型中，获得对应的工位布局图。

3.根据权利要求2所述的一种继电器多性能综合测试方法，其特征在于，获取目标设备的特性坐标的方法包括：

获取目标设备特性信息，设置特性关键项目表，根据设置的特性关键项目表对目标设备特性信息进行关键数据提取，获得关键项数据，将关键项数据进行数值化，获得特性项数值，将属于同一目标设备的特性项数值整合为特性坐标。

4.根据权利要求2所述的一种继电器多性能综合测试方法，其特征在于，计算检测分类的分类值的方法包括：

识别检测分类包括的共性坐标，计算共性坐标的坐标代表值，并标记为ZBj，其中j表示共性坐标，j＝1、2、……、m，m为正整数；根据检测分类匹配对应的转置系数，并标记为α，根据分类值公式计算分类值，其中b2为比例系数，取值范围为0b2≤1。

5.根据权利要求4所述的一种继电器多性能综合测试方法，其特征在于，计算共性坐标的坐标代表值的方法包括：

将共性坐标的元素种类标记为i，其中i＝1、2、……、n，n为正整数；识别对应元素种类的数值，标记为Pi，识别元素种类对应的关键项，根据识别的关键项设置对应的权重系数，并标记为μi，根据坐标值公式计算坐标代表值，b1为比例系数，取值范围为0b1≤1，λ为修正因子，取值范围为0λ≤1。

6.根据权利要求1所述的一种继电器多性能综合测试方法，其特征在于，根据继电器检测台具备的检测项目编制联合检测方案的方法包括：

设置检测项目的优先等级，根据设置的优先等级进行对应的检测项目组合，获得待选检测组合；获取每个检测项目的检测方法，根据获得的检测方法和工位布局图对待选检测组合进行筛选，获得目标检测组合，根据目标检测组合编制对应的联合检测方案。

7.根据权利要求1所述的一种继电器多性能综合测试方法，其特征在于，控制模块用于控制继电器的检测，具体方法包括：

识别检测工位上具有的继电器，标记为待检测继电器，获取待检测继电器信息，根据待检测继电器信息和具有的联合检测方案设置组合检测横道图，并获取对应应用的联合检测方案，根据组合检测横道图和联合检测方案开始进行继电器的检测，获得检测数据，将检测数据与对应的设计数据进行比较，获得检测结果。

8.根据权利要求7所述的一种继电器多性能综合测试方法，其特征在于，根据待检测继电器信息和具有的联合检测方案设置组合检测横道图的方法为：

获取待检测继电器数量，根据获取的待检测继电器数量进行联合检测方案的组合匹配，获得组合实施方案，并为每个待检测继电器打上对应的联合检测方案编号标签，根据组合实施方案设置组合检测横道图。