[发明专利]芯片转移方法、Micro-LED显示器件及制作方法在审
申请号: | 202210588481.7 | 申请日: | 2022-05-26 |
公开(公告)号: | CN114927458A | 公开(公告)日: | 2022-08-19 |
发明(设计)人: | 郭婵;龚政;潘章旭;李育智;邹胜晗;王建太;陈志涛 | 申请(专利权)人: | 广东省科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/67;H01L25/075;G09F9/33 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 王闯 |
地址: | 510651 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 芯片 转移 方法 micro led 显示 器件 制作方法 | ||
1.一种芯片转移方法,其特征在于,所述方法包括:
提供一原始衬底,所述原始衬底上具有多个呈阵列排布的待转移的芯片;
在压力作用下将胶带贴合至所述原始衬底及芯片;
将所述胶带和芯片从所述原始衬底上剥离;
在压力作用下,将带有芯片的胶带贴合至提供的玻璃基板上以排除掉空气,采用紫外光照射使所述胶带的粘性减弱,将带有芯片的粘性减弱后的胶带贴合至目标衬底,以将芯片转移至所述目标衬底上。
2.根据权利要求1所述的芯片转移方法,其特征在于,所述将带有芯片的胶带贴合至提供的玻璃基板上以排除掉空气,采用紫外光照射使所述胶带的粘性减弱,将带有芯片的粘性减弱后的胶带贴合至目标衬底,以将芯片转移至所述目标衬底上的步骤,包括:
将带有芯片的胶带贴合至提供的玻璃基板上以排除掉空气,利用光学光罩并采用紫外光对芯片进行照射,得到曝光区域的芯片以及非曝光区域的芯片,其中,曝光区域的芯片的高度相较非曝光区域的芯片的高度更低;
利用胶带依次将非曝光区域的芯片转移至第一目标衬底上、将曝光区域的芯片转换至第二目标衬底上。
3.根据权利要求2所述的芯片转移方法,其特征在于,所述利用胶带依次将非曝光区域的芯片转移至第一目标衬底上、将曝光区域的芯片转换至第二目标衬底上的步骤,包括:
在压力作用下将带有所有芯片的胶带与第一目标衬底贴合,以使非曝光区域的芯片转移至所述第一目标衬底上;
将带有曝光区域的芯片的胶带从所述第一目标衬底上剥离,并贴合至玻璃基板上,采用紫外光进行照射以至所述胶带完全减粘;
将完全减粘后的带有曝光区域的芯片的胶带贴合至第二目标衬底,以将曝光区域的芯片转移至所述第二目标衬底。
4.根据权利要求1所述的芯片转移方法,其特征在于,所述目标衬底与芯片贴合的一侧具有黏附层。
5.根据权利要求1所述的芯片转移方法,其特征在于,所述在压力作用下将胶带贴合至所述原始衬底及芯片的步骤,包括:
于垂直方向上对所述胶带和原始衬底施加压力;
利用抽真空装置抽离所述胶带和原始衬底之间的空气,以将所述胶带贴合至所述原始衬底。
6.根据权利要求1所述的芯片转移方法,其特征在于,所述在压力作用下将胶带贴合至所述原始衬底及芯片的步骤,包括:
利用滚轮设备对胶带进行依次均匀施压,以使胶带和原始衬底之间在无气泡状态下贴合。
7.根据权利要求1所述的芯片转移方法,其特征在于,所述在压力作用下将胶带贴合至所述原始衬底及芯片的步骤之前,所述方法还包括:
将具有芯片的原始衬底浸泡至腐蚀溶液中,以使所述芯片与原始衬底之间形成弱结合力。
8.根据权利要求2所述的芯片转移方法,其特征在于,所述紫外光的照射波长为320nm至400nm。
9.一种Micro-LED显示器件制作方法,其特征在于,包括芯片转移和芯片阵列制作,其中,采用权利要求1-8任意一项所述的芯片转移方法进行芯片转移。
10.一种Micro-LED显示器件,其特征在于,采用权利要求9所述的Micro-LED显示器件制作方法制作形成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东省科学院半导体研究所,未经广东省科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210588481.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造