[发明专利]光模块连片板阻抗测试方法在审
| 申请号： | 202210589232.X | 申请日： | 2022-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN114966210A | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 欧智鹏 | 申请（专利权）人： | 欣强电子（清远）有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 广州高炬知识产权代理有限公司 44376 | 代理人： | 王昌金 |
| 地址： | 511500 广东省清远市高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 模块 连片 阻抗 测试 方法 | ||
1.一种光模块连片板阻抗测试方法，其特征在于，包括步骤：
将光模块连片板的各单元小件设置为独立状态，并将所述单元小件的通道选取设置为测试状态，作为待测连片板；
选取所述待测连片板中的部分单元小件，作为待测小件；
对所述待测小件的通道进行阻抗测试。
2.根据权利要求1所述的光模块连片板阻抗测试方法，其特征在于，在所述将光模块连片板的各单元小件设置为独立状态，并所述单元小件的通道选取设置为测试状态，作为待测连片板的过程之前，还包括步骤：
根据阻抗均匀性筛选光模块连片板。
3.根据权利要求2所述的光模块连片板阻抗测试方法，其特征在于，所述阻抗均匀性包括光模块连片板的基板厚度一致性。
4.根据权利要求2所述的光模块连片板阻抗测试方法，其特征在于，所述阻抗均匀性包括光模块连片板的面铜分布规律。
5.根据权利要求2所述的光模块连片板阻抗测试方法，其特征在于，所述阻抗均匀性包括光模块连片板的阻抗线宽分布规律。
6.根据权利要求1所述的光模块连片板阻抗测试方法，其特征在于，所述测试状态为可更改状态，所述独立状态为可打开或关闭状态。
7.根据权利要求1所述的光模块连片板阻抗测试方法，其特征在于，所述选取所述待测连片板中的部分单元小件，作为待测小件的过程，包括步骤：
选取所述待测连片板中边角位置和中心位置的单元小件，作为待测小件。
8.根据权利要求1所述的光模块连片板阻抗测试方法，其特征在于，所述选取所述待测连片板中的部分单元小件，作为待测小件的过程，包括步骤：
选取所述待测连片板中边角位置的单元小件，作为待测小件。
9.根据权利要求1所述的光模块连片板阻抗测试方法，其特征在于，所述对所述待测小件的通道进行阻抗测试的过程，包括步骤：
通过阻抗测试机台对所述待测小件的通道进行阻抗测试。
10.根据权利要求1所述的光模块连片板阻抗测试方法，其特征在于，还包括步骤：
根据在所述阻抗测试中出现问题的待测小件划分问题区域，并对问题区域内的全部待测小件进行二次阻抗测试。
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