[发明专利]射频通路测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202210597137.4 | 申请日: | 2022-05-30 |
公开(公告)号: | CN115021838A | 公开(公告)日: | 2022-09-06 |
发明(设计)人: | 史燕飞 | 申请(专利权)人: | 上海闻泰信息技术有限公司 |
主分类号: | H04B17/30 | 分类号: | H04B17/30;H04L43/0811 |
代理公司: | 广州德科知识产权代理有限公司 44381 | 代理人: | 杨中强;万振雄 |
地址: | 200062 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射频 通路 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种射频通路测试方法,其特征在于,应用于电子设备;所述电子设备与待验证的目标射频电路中的目标射频器件连接;所述方法包括:
在所述目标射频电路通电时,读取所述目标射频器件的寄存器读取值;
从数据库中获取所述目标射频器件的目标寄存器预设值;
根据所述目标射频器件的寄存器读取值,以及所述目标寄存器预设值,确定所述目标射频器件在所述待验证的目标射频电路中的工作状态。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标射频器件包括开关;所述数据库包括所述开关对应的多个器件连接关系以及所述开关在各个所述器件连接关系中分别对应的寄存器预设值;所述根据所述目标射频器件的寄存器读取值,以及所述目标寄存器预设值,确定所述目标射频器件在所述待验证的目标射频电路中的工作状态,包括:
根据所述开关的寄存器读取值,从所述多个器件连接关系中确定所述寄存器读取值对应的第一器件连接关系;
根据所述开关的目标寄存器预设值,从所述多个器件连接关系中确定所述目标寄存器预设值对应的第二器件连接关系;
根据所述第一器件连接关系和所述第二器件连接关系,确定所述开关在所述待验证的目标射频电路的工作状态。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一器件连接关系和所述第二器件连接关系,确定所述开关在所述待验证的目标射频电路的工作状态,包括:
若所述第一器件连接关系和所述第二器件连接关系相同,则确定所述开关在所述待验证的目标射频电路中处于正常工作状态;
若所述第一器件连接关系和所述第二器件连接关系不相同,则确定所述开关在所述待验证的目标射频电路中处于异常工作状态。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在所述确定所述开关在所述待验证的目标射频电路中处于异常工作状态之后,所述方法还包括:
将所述目标寄存器预设值写入所述目标射频器件的寄存器中。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标射频器件的寄存器读取值,以及所述目标寄存器预设值,确定所述目标射频器件在所述待验证的目标射频电路中的工作状态,包括:
若所述目标射频器件的寄存器读取值与所述目标寄存器预设值相等,则确定所述目标射频器件在所述待验证的目标射频电路中处于正常工作状态;
若所述目标射频器件的寄存器读取值与所述目标寄存器预设值不相等,则确定所述目标射频器件在所述待验证的目标射频电路中处于异常工作状态。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述工作状态包括:异常工作状态;在所述确定所述目标射频器件在所述待验证的目标射频电路中的工作状态为异常工作状态之后,所述方法还包括:
显示所述待验证的目标射频电路对应的仿真射频电路;
在所述仿真射频电路中高亮显示所述目标射频器件。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标射频电路为共用所述目标射频器件的多个测试射频电路中的其中一个测试射频电路;所述在所述目标射频电路通电时,读取所述目标射频器件的寄存器读取值之前,所述方法还包括:
遍历所述多个测试射频电路,将所述多个测试射频电路中每一测试射频电路逐次确定为待验证的目标射频电路;
以及,所述数据库包括:所述目标射频器件在所述多个测试射频电路中分别对应的寄存器预设值;以及,所述从数据库中获取所述目标射频器件的目标寄存器预设值,包括:
从所述目标射频器件在所述多个测试射频电路中分别对应的寄存器预设值中,识别出与所述目标测试电路对应的目标寄存器预设值。
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