[发明专利]射频通路测试方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请实施例公开一种射频通路测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法应用于电子设备；电子设备与待验证的目标射频电路中的目标射频器件连接；该方法包括：在目标射频电路通电时，读取目标射频器件的寄存器读取值；从数据库中获取目标射频器件的目标寄存器预设值；根据目标射频器件的寄存器读取值，以及目标寄存器预设值，确定目标射频器件在待验证的目标射频电路中的工作状态。实施本申请实施例，能够提高射频通路测试的效率，而且提高射频通路测试的准确率。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，具体涉及一种射频通路测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在对电子设备的射频通路进行前期配置中，为了使射频通路导通，需要对射频通路中的射频器件进行正确的软件配置，使其能够与硬件设计相符。比如，当射频通路中的天线开关没有正确配置时，天线开关处于断开状态，导致射频通路无法导通。因此，需要一种方法能够测试射频器件的工作状态，从而检查射频通路的连通性。现有技术一般采用非信令测试，逐一手动确认各个射频器件的工作状态是否正常，但是这种测试方式效率很慢，且容易产生疏漏。

发明内容

本申请实施例公开了一种射频通路测试方法、装置、电子设备及存储介质，能够提高射频通路测试的效率，而且提高射频通路测试的准确率。

本申请实施例公开一种射频通路测试方法，其特征在于，应用于电子设备；所述电子设备与待验证的目标射频电路中的目标射频器件连接；所述方法包括：

在所述目标射频电路通电时，读取所述目标射频器件的寄存器读取值；

从数据库中获取所述目标射频器件的目标寄存器预设值；

根据所述目标射频器件的寄存器读取值，以及所述目标寄存器预设值，确定所述目标射频器件在所述待验证的目标射频电路中的工作状态。

作为一种可选的实施方式，所述目标射频器件包括开关；所述数据库包括所述开关对应的多个器件连接关系以及所述开关在各个所述器件连接关系中分别对应的寄存器预设值；所述根据所述目标射频器件的寄存器读取值，以及所述目标寄存器预设值，确定所述目标射频器件在所述待验证的目标射频电路中的工作状态，包括：

根据所述开关的寄存器读取值，从所述多个器件连接关系中确定所述寄存器读取值对应的第一器件连接关系；

根据所述开关的目标寄存器预设值，从所述多个器件连接关系中确定所述目标寄存器预设值对应的第二器件连接关系；

根据所述第一器件连接关系和所述第二器件连接关系，确定所述开关在所述待验证的目标射频电路的工作状态。

作为一种可选的实施方式，所述根据所述第一器件连接关系和所述第二器件连接关系，确定所述开关在所述待验证的目标射频电路的工作状态，包括：

若所述第一器件连接关系和所述第二器件连接关系相同，则确定所述开关在所述待验证的目标射频电路中处于正常工作状态；

若所述第一器件连接关系和所述第二器件连接关系不相同，则确定所述开关在所述待验证的目标射频电路中处于异常工作状态。

作为一种可选的实施方式，在所述确定所述开关在所述待验证的目标射频电路中处于异常工作状态之后，所述方法还包括：

将所述目标寄存器预设值写入所述目标射频器件的寄存器中。

作为一种可选的实施方式，所述根据所述目标射频器件的寄存器读取值，以及所述目标寄存器预设值，确定所述目标射频器件在所述待验证的目标射频电路中的工作状态，包括：

若所述目标射频器件的寄存器读取值与所述目标寄存器预设值相等，则确定所述目标射频器件在所述待验证的目标射频电路中处于正常工作状态；