[发明专利]一种利用CT测量光栅内部结构的方法

权利要求书

1.一种利用CT测量光栅内部结构的方法，其特征在于，包括：

将光敏材料制作成微胶囊并对微胶囊进行标定，所述微胶囊的外壳具有抵抗被测光栅内部压力所产生明显形变的杨氏模量；

将标定的微胶囊均匀混入被测光栅内部；

通过CT设备扫描混有所述微胶囊的被测光栅内部，获取被测光栅内光敏材料的第一密度，所述微胶囊的外壳尺寸大于CT设备的最小分辨率；

将第一密度与标定时微胶囊内光敏材料的第二密度进行对比，获得被测光栅内部的内部结构值；

根据内部结构值，构建被测光栅的3D内部结构。

2.根据权利要求1所述的一种利用CT测量光栅内部结构的方法，其特征在于，所述将光敏材料制作成微胶囊并对微胶囊进行标定之前还包括：

获取被测光栅内部需要进行结构测量的具体位置；

根据具体位置决定光敏材料在微胶囊中的空间占比。

3.根据权利要求2所述的一种利用CT测量光栅内部结构的方法，其特征在于，所述将标定的微胶囊均匀混入被测光栅内部指定位置，具体包括：将制作好的具有不同空间占比的微胶囊投入到被测光栅内部对应的具体位置。