[发明专利]一种利用CT测量光栅内部结构的方法

说明书

本发明公开一种利用CT测量光栅内部结构的方法，包括：将光敏材料制作成微胶囊并对微胶囊进行标定；将标定的微胶囊均匀混入被测光栅内部；通过CT设备扫描混有所述微胶囊的被测光栅内部，获取被测光栅内光敏材料的第一密度，所述微胶囊的外壳尺寸大于CT设备的最小分辨率；将第一密度与标定时微胶囊内光敏材料的第二密度进行对比，获得被测光栅内部的内部结构值；根据内部结构值，构建被测光栅的3D内部结构。本发明可以在不对光栅进行破坏的情况下测量光栅内部的结构，而且可以针对光栅内部结构的不同位置投入不同空间占比的微胶囊，从而提高内部结构测量的准确率。

技术领域

本发明属于内部结构测量技术领域，具体来说，涉及一种利用CT测量光栅内部结构的方法，特别适用于化工、制药、膜加工等生产和科研过程中需要在无介入条件下测量光栅内部结构分布与变化的场合。

背景技术

内部结构测量是目前任何工业和科研上不可缺少的一种重要手段。通过测量物体的内部结构，我们可以直接或间接的获取其它重要的信息。在医学方面，我们通过测量体温可以判断一个人的健康情况；在制药过程中，高精度控制内部结构是制取高质量药品的重要保障；在航天上，把航天器的内部结构控制在一定范围内是整个航天项目的最重要任务之一。

虽然目前的尺寸测量技术已经非常的成熟，例如千分尺、激光测距、光学衍射等技术都可以精确地测量物体的内部结构，但是他们也有自身的局限性。例如，如果需要测量光栅内部结构不得不将光栅切开，但是由于光栅是柔性材料而且尺寸极小，如果切割角度稍有有准确，就容易导致截面发生畸变，最终测量不准确。更甚者，大部分情况下光栅结构不允许破坏，比如玻璃光栅。

发明内容

针对现有技术存在的光栅内部结构在不被破坏的情况下不易测量的问题，本发明提供了一种利用CT测量光栅内部结构的方法，该方法通过往光栅内部填充标定的含有光敏材料的微胶囊，从而在不破坏光栅内部结构的情况下测量光栅内部结构。

为实现上述技术目的，本发明采用的技术方案如下：

一种利用CT测量光栅内部结构的方法，包括：

将光敏材料制作成微胶囊并对微胶囊进行标定，所述微胶囊的外壳具有抵抗被测光栅内部压力所产生明显形变的杨氏模量；

将标定的微胶囊均匀混入被测光栅内部；

通过CT设备扫描混有所述微胶囊的被测光栅内部，获取被测光栅内光敏材料的第一密度，所述微胶囊的外壳尺寸大于CT设备的最小分辨率；

将第一密度与标定时微胶囊内光敏材料的第二密度进行对比，获得被测光栅内部的内部结构值；

根据内部结构值，构建被测光栅的3D内部结构。

可选地，所述将光敏材料制作成微胶囊并对微胶囊进行标定之前还包括：

获取被测光栅内部需要进行结构测量的具体位置；

根据具体位置决定光敏材料在微胶囊中的空间占比。

可选地，所述将标定的微胶囊均匀混入被测光栅内部指定位置，具体包括：将制作好的具有不同空间占比的微胶囊投入到被测光栅内部对应的具体位置。

本发明相比现有技术，具有如下有益效果：

(1)、测量光栅内部结构过程中，无需破坏待测光栅；

(2)、由于微胶囊能够有效填入待测光栅的指定位置，因此即使被测光栅处于运动状态下也能够对内部结构进行测量；

(3)、根据不同位置填入不同空间占比的微胶囊，从而获得测量光栅不同位置的内部结构值，从而构建光栅的3D内部结构图。

附图说明

图1为本发明测量方法的第一种实施例流程图；