[发明专利]一种倒角尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种倒角尺寸测量方法，其特征在于，所述方法包括：

获取3D线激光相机采集的待处理图像，确定所述待处理图像中倒角轮廓上的每个初始端点；

针对所述每个初始端点，确定该初始端点对应的校正区域，并将该校正区域进行划分，得到该划分区域内的各条划分线；根据所述各条划分线上的第一像素点的平均灰度值和平均灰度梯度值，确定所述各条划分线的边界评分值，选取所述边界评分值最高的划分线作为该初始端点的倒角边界线；

确定所述倒角轮廓的拟合直线，根据各个倒角边界线和所述倒角轮廓的拟合直线的交点，确定各个目标端点；根据所述各个目标端点进行倒角尺寸测量。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取3D线激光相机采集的待处理图像包括：

获取3D线激光相机采集的多帧图像，对所述多帧图像进行连续性融合或非连续性融合，得到所述待处理图像。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述待处理图像中倒角轮廓上的每个初始端点包括：

确定所述待处理图像中每列灰度值最大的第二像素点；在所述待处理图像的水平方向上遍历每列的第二像素点，根据所述每列的第二像素点的坐标信息和倒角轮廓位置特性，确定倒角轮廓上的每个初始端点。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，针对所述每个初始端点，确定该初始端点的倒角边界线的过程包括：

针对所述每个初始端点，分别确定该初始端点对应的纵向校正区域和法向校正区域，并分别将该纵向校正区域和该法向校正区域进行划分，得到各自划分区域内的各条划分线；

根据该纵向校正区域内的各条划分线上的第一像素点的平均灰度值和平均灰度梯度值，确定该纵向校正区域内的各条划分线的边界评分值，选取边界评分值最高的划分线作为该初始端点在该纵向校正区域内的倒角边界线；

根据该法向校正区域内的各条划分线上的第一像素点的平均灰度值和平均灰度梯度值，确定该法向校正区域内的各条划分线的边界评分值，选取边界评分值最高的划分线作为该初始端点在该法向校正区域内的倒角边界线。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据各个倒角边界线和所述倒角轮廓的拟合直线的交点，确定各个目标端点包括：

针对所述每个初始端点，分别确定所述倒角轮廓的拟合直线与该初始端点的纵向校正区域内的倒角边界线的第一交点，以及所述倒角轮廓的拟合直线与该初始端点的法向校正区域内的倒角边界线的第二交点；将所述第一交点和所述第二交点构成的线段的中点作为该初始端点对应的目标端点。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取3D线激光相机采集的待处理图像之前，所述方法还包括：

采用所述3D线激光相机对两种高度不同的标准被测物进行高度测量，根据测量高度差和力量高度差确定所述3D线激光相机的安装倾斜角度，将所述安装倾斜角度作为所述3D线激光相机外参并保存在所述3D线激光相机外中。

7.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定所述待处理图像中每列灰度值最大的第二像素点包括：

筛选出所述待处理图像中灰度值大于预设的第一灰度阈值的第三像素点；

对每个第三像素点进行高斯列卷积处理，确定每列灰度值最大的第二像素点；其中，针对每列像素点，若该列中存在多个灰度值最大的第二像素点，则将所述多个灰度值最大的第二像素点的平均位置像素点作为该列的第二像素点。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述确定所述待处理图像中每列灰度值最大的第二像素点之后，所述方法还包括：

针对每个第二像素点，确定该第二像素点对应的邻域范围；判断所述邻域范围内包含的大于预设的第二灰度阈值的像素点的数量是否小于设定的数量阈值，如果是，确定该第二像素点为异常点并滤除。