[发明专利]一种倒角尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种倒角尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质，获取3D线激光相机采集的待处理图像，确定待处理图像中倒角轮廓上的每个初始端点之后，考确定该初始端点对应的校正区域，并得到该划分区域内的各条划分线；根据各条划分线上的第一像素点的平均灰度值和平均灰度梯度值，确定各条划分线的边界评分值，选取边界评分值最高的划分线作为该初始端点的倒角边界线；然后根据各个倒角边界线和倒角轮廓的拟合直线的交点，确定各个目标端点，最后根据目标端点进行倒角尺寸测量。本发明实施例通过对原始端点进行校正可以得到更准确的目标端点，目标端点准确保证了倒角尺寸测量的准确性。

技术领域

本发明涉及视觉检测技术领域，尤其涉及一种倒角尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

光学玻璃是制造光学仪器的重要原材料，这些光学元件在生产的过程中需要使用磨边机进行磨切，切割出倒角后进行实际应用。在一些精密光学元件上，玻璃倒角的尺寸要求比较严格，需要进行精确的尺寸测量。

相关技术中一般通过三坐标测量仪来测量玻璃倒角尺寸，但是三坐标测量仪需要将被测物放置三坐标测量仪平台上，使用x，y，z三个方向的测头接触被测物进行测量，不仅容易磨损被测物，使得测量精度较低，而且对测量人员的技术要求较高，设备成本高，难以广泛应用。为了解决上述问题，出现了基于图像进行玻璃倒角尺寸的技术方案，采用CCD相机拍摄玻璃轮廓，在图像上进行尺寸测量，其存在的问题是受环境光影响较大，且玻璃为透明材质会引入更多的杂散光，使图像质量不佳，导致最终的测量精度较低。

发明内容

本发明实施例提供了一种倒角尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质，用以解决相关技术的测量玻璃倒角尺寸的方案测量精度较低的问题。

本发明实施例提供了一种倒角尺寸测量方法，所述方法包括：

获取3D线激光相机采集的待处理图像，确定所述待处理图像中倒角轮廓上的每个初始端点；

针对所述每个初始端点，确定该初始端点对应的校正区域，并将该校正区域进行划分，得到该划分区域内的各条划分线；根据所述各条划分线上的第一像素点的平均灰度值和平均灰度梯度值，确定所述各条划分线的边界评分值，选取所述边界评分值最高的划分线作为该初始端点的倒角边界线；

确定所述倒角轮廓的拟合直线，根据各个倒角边界线和所述倒角轮廓的拟合直线的交点，确定各个目标端点；根据所述各个目标端点进行倒角尺寸测量。

进一步地，所述获取3D线激光相机采集的待处理图像包括：

获取3D线激光相机采集的多帧图像，对所述多帧图像进行连续性融合或非连续性融合，得到所述待处理图像。

进一步地，所述确定所述待处理图像中倒角轮廓上的每个初始端点包括：

确定所述待处理图像中每列灰度值最大的第二像素点；在所述待处理图像的水平方向上遍历每列的第二像素点，根据所述每列的第二像素点的坐标信息和倒角轮廓位置特性，确定倒角轮廓上的每个初始端点。

进一步地，针对所述每个初始端点，确定该初始端点的倒角边界线的过程包括：

针对所述每个初始端点，分别确定该初始端点对应的纵向校正区域和法向校正区域，并分别将该纵向校正区域和该法向校正区域进行划分，得到各自划分区域内的各条划分线；

根据该纵向校正区域内的各条划分线上的第一像素点的平均灰度值和平均灰度梯度值，确定该纵向校正区域内的各条划分线的边界评分值，选取边界评分值最高的划分线作为该初始端点在该纵向校正区域内的倒角边界线；

根据该法向校正区域内的各条划分线上的第一像素点的平均灰度值和平均灰度梯度值，确定该法向校正区域内的各条划分线的边界评分值，选取边界评分值最高的划分线作为该初始端点在该法向校正区域内的倒角边界线。