[发明专利]一种白炭黑硅羟基的测定方法

权利要求书

1.一种白炭黑硅羟基的测定方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、称取一定质量的白炭黑并将其平铺在坩埚中，记录样品质量m₀；

步骤二、将坩埚置于可以进行程序升温控制的气氛炉中，在设定温度下采用氮气吹扫白炭黑一定时间，取出坩埚并称重，记录质量m₁；

步骤三、将气氛炉的吹扫气切换为氨气，于一定条件下对白炭黑进行氨吸附处置；

步骤四、重新将气氛切回氮气，在设定条件下对白炭黑的物理吸附氨进行脱附处置；

步骤五、取出样品坩埚并称重，记录质量m₂，按公式计算获得白炭黑硅羟基含量。

2.根据权利要求1所述的一种白炭黑硅羟基的测定方法，其特征在于，所述步骤二中，所述气氛炉为热重分析炉或者程序控温管式炉。

3.根据权利要求2所述的一种白炭黑硅羟基的测定方法，其特征在于，所述步骤一中的一定质量根据所选气氛炉确定，气氛炉为热重分析炉时，一定质量满足10～15mg；气氛炉为程序控温管式炉时，一定质量满足1～3g。

4.根据权利要求1所述的一种白炭黑硅羟基的测定方法，其特征在于，所述步骤二中，设定温度范围满足105～200℃，氮气吹扫流量为50～100mL/min，一定时间为30～60min。

5.根据权利要求1所述的一种白炭黑硅羟基的测定方法，其特征在于，所述步骤三中，一定条件是指吸附温度为20～40℃，氨气流量为50～100mL/min，吸附时间为1～4h。

6.根据权利要求1所述的一种白炭黑硅羟基的测定方法，其特征在于，所述步骤四中，设定条件是指脱附温度为105～150℃，脱附时间为30～60min。

7.根据权利要求1所述的一种白炭黑硅羟基的测定方法，其特征在于，所述步骤五中，所述含量指硅羟基质量百分比含量，计算公式如下所示：

式中，为硅羟基的质量分数。

8.根据权利要求1所述的一种白炭黑硅羟基的测定方法，其特征在于，所述步骤五中，所述含量指硅羟基数目，计算公式如下所示：

式中，为硅羟基的质量分数，ρ_OH为硅羟基数目，N_A为阿伏伽德罗常数，S为白炭黑比表面积，M_OH为羟基的摩尔质量。