[发明专利]扇出封装晶圆的对位方法及扇出封装晶圆在审
申请号: | 202210636457.6 | 申请日: | 2022-06-07 |
公开(公告)号: | CN115036251A | 公开(公告)日: | 2022-09-09 |
发明(设计)人: | 陈海杰;徐立;潘浩 | 申请(专利权)人: | 江阴长电先进封装有限公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L23/544 |
代理公司: | 杭州五洲普华专利代理事务所(特殊普通合伙) 33260 | 代理人: | 姚宇吉 |
地址: | 214400 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 封装 对位 方法 | ||
1.一种扇出封装晶圆的对位方法,其特征在于,包括:
提供扇出封装晶圆基板,所述扇出封装晶圆基板具有若干个第一扇出封装区域和贴片于第一扇出封装区域内的第一芯片,在所述扇出封装晶圆基板内选择至少三个对位区域,所述对位区域至少包括2x2的四颗相邻第一芯片及每一颗第一芯片所对应的四个相邻的第一扇出封装区域;
每一个对位区域选取至少一颗第一芯片作为对位点芯片,对位点芯片对应的第一扇出封装区域作为对位扇出封装区域,在芯片贴片工艺中,将所述对位点芯片从对位扇出封装区域的预定贴片位置按照预定移动规则向四颗相邻第一芯片的中间位置移动并贴片,使得所述对位点芯片的实际贴片位置位于后续工艺对应的曝光设备对位视窗内;
根据对位点芯片在曝光设备对位视窗的位置和预定移动规则确定对位点位置和整个扇出封装晶圆基板的芯片贴片位置。
2.根据权利要求1所述的扇出封装晶圆的对位方法,其特征在于,每一个对位区域选取两颗斜对角的第一芯片作为对位点芯片,两颗所述对位点芯片从对应的对位扇出封装区域的预定贴片位置按照预定移动规则分别向四颗相邻第一芯片的中间位置移动并贴片。
3.根据权利要求1所述的扇出封装晶圆的对位方法,其特征在于,每一个对位区域选取一颗第一芯片作为对位点芯片,所述对位点芯片从对应的对位扇出封装区域的预定贴片位置按照预定移动规则向四颗相邻第一芯片的中间位置移动并贴片。
4.根据权利要求1所述的扇出封装晶圆的对位方法,其特征在于,当所述对位点芯片对应的预定贴片位置本身全部或部分位于后续光刻工艺对应的曝光设备对位视窗内,在贴片时,所述对位点芯片向中间位置移动后,对位点芯片的实际贴片位置仍位于对位点芯片对应的对位扇出封装区域内。
5.根据权利要求1所述的扇出封装晶圆的对位方法,其特征在于,当对位点芯片对应的预定贴片位置全部位于后续光刻工艺对应的曝光设备对位视窗外,在贴片时,所述对位点芯片向中间位置移动后,对位点芯片对应的最大移动位置不超过四个相邻第一扇出封装区域之间的封装划片道要求的最小宽度区域。
6.根据权利要求1所述的扇出封装晶圆的光刻对位方法,其特征在于,所述第一扇出封装区域除了具有第一芯片,还具有若干其他芯片,所述其他芯片贴片于其他芯片对应的预定贴片位置。
7.一种扇出封装晶圆,其特征在于,包括:
扇出封装晶圆基板,所述扇出封装晶圆基板具有若干个第一扇出封装区域和贴片于第一扇出封装区域内的第一芯片;
所述扇出封装晶圆基板内至少具有三个对位区域,所述对位区域至少包括2x2的四颗相邻第一芯片及每一颗第一芯片所对应的四个相邻的第一扇出封装区域;
每一个对位区域的至少一颗第一芯片作为对位点芯片,对位点芯片对应的第一扇出封装区域作为对位扇出封装区域,在芯片贴片工艺中,将所述对位点芯片从对位扇出封装区域的预定贴片位置按照预定移动规则向四颗相邻第一芯片的中间位置移动并贴片,使得所述对位点芯片的实际贴片位置位于后续工艺对应的曝光设备对位视窗内,其余第一芯片贴片于对应第一扇出封装区域的预定贴片位置。
8.根据权利要求7所述的扇出封装晶圆,其特征在于,每一个对位区域选取两颗斜对角的第一芯片作为对位点芯片,两颗所述对位点芯片从对应的对位扇出封装区域的预定贴片位置按照预定移动规则移动到实际贴片位置并贴片。
9.根据权利要求7所述的扇出封装晶圆,其特征在于,每一个对位区域选取一颗第一芯片作为对位点芯片,所述对位点芯片从对应的对位扇出封装区域的预定贴片位置按照预定移动规则移动到实际贴片位置并贴片。
10.根据权利要求7所述的扇出封装晶圆,其特征在于,当所述对位点芯片对应的预定贴片位置本身全部或部分位于后续光刻工艺对应的曝光设备对位视窗内,对位点芯片的实际贴片位置位于对位点芯片对应的对位扇出封装区域内。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江阴长电先进封装有限公司,未经江阴长电先进封装有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210636457.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种自动化AI招聘的方法
- 下一篇:一种制作温度校准探头的辅助装置和制作工艺
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造