[发明专利]一种电子级氯化氢分析方法有效
申请号: | 202210659878.0 | 申请日: | 2022-06-13 |
公开(公告)号: | CN114965828B | 公开(公告)日: | 2023-09-05 |
发明(设计)人: | 万小光;邓前;刘丽娜 | 申请(专利权)人: | 北京高麦克仪器科技有限公司 |
主分类号: | G01N30/46 | 分类号: | G01N30/46;G01N30/64 |
代理公司: | 北京冠和权律师事务所 11399 | 代理人: | 万晶晶 |
地址: | 100000 北京市顺义区仁和镇林*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电子 氯化氢 分析 方法 | ||
本发明提供一种电子级氯化氢分析方法,包括以下步骤:在分离装置中装设特制的色谱柱;选用特殊材料的管路对仪器进行连接,并在管路转向处采用圆弧弯道;在氦放电离子化检测器中采用铂金电极以及双腔体设计;在分离装置中通入氦气进行吹扫置换;在分离装置中通入样品气,分离装置将样品气分离出多种待分析杂质组份;将多种待分析杂质组份输送至氦放电离子化检测器中进行分析。本发明中采用特制的色谱柱,脱附氯化氢速度快,管路转弯处采用无角度的连接,不易吸附氯化氢,不易在管路上形成涡旋与残留;氦放电离子化检测器采用铂金电极和双腔体设计,抗腐蚀,减少氯化氢对放电极的干扰。
技术领域
本发明涉及于气相色谱分析技术领域,特别涉及一种电子级氯化氢分析方法。
背景技术
气体工业是国民经济的基础行业,随着国民经济的快速发展,气体工业特别是高纯和超高纯气体以及电子用气体行业也蓬勃发展。气体中痕量杂质的检测是生产高纯气体和电子工业用气的关键环节,而这些气体中微量杂质的分析一直是色谱分析的难点。
现阶段气相色谱仪在使用中存在以下问题:一是仪器预分离色谱柱脱附氯化氢较慢,二是仪器管路设计及材质不适应氯化氢分析要求,三是气路设计未考虑气路平衡,四是仪器检测器被污染后不易恢复正常。
发明内容
本发明提供了一种电子级氯化氢分析方法,用以解决上述背景技术中提出问题的至少一项。
为解决上述技术问题,本发明公开了一种电子级氯化氢分析方法,包括以下步骤:S1:在分离装置中装设色谱柱;S2:用管路对仪器进行连接,并在管路转向处采用圆弧弯道;S3:在氦放电离子化检测器中采用铂金电极以及双腔体设计;S4:在分离装置中通入氦气进行吹扫置换;S5:在分离装置中通入样品气,分离装置将样品气分离出多种待分析杂质组份;S6:将多种待分析杂质组份输送至氦放电离子化检测器中进行分析。
优选的,所述色谱柱包括有4根,分别为:分离色谱柱一:4’x1/8”硅胶色谱柱;分离色谱柱二:10’x 1/8” hayesep R色谱柱;分析色谱柱一:6’x1/8”13X色谱柱;分析色谱柱二:15’x 1/8” hayesep Q色谱柱。
优选的,所述管路转向处采用圆弧弯道,避免锐角与钝角出现,且所述管路采用EP级316L不锈钢,并经过电化学抛光与钝化处理。
优选的,所述氦放电离子化检测器包括:放电室和集电室,所述放电室和集电室均固定设置于氦放电离子化检测器壳体内,且所述放电室下端连通细管,所述细管下端连通集电室,所述放电室内固定设有两个左右对称的放电极,所述集电室内固定设有集电极。
优选的,所述放电室上贯通连接有第二管路,分离装置上连接有第一管路,所述第一管路和第二管路通过VCR接头连通;
所述第一管路和第二管路均延伸进VCR接头内,所述VCR接头包括有:
壳体和限位块,所述壳体内设有内螺纹,所述限位块外侧设有外螺纹,所述壳体和限位块螺纹连接;
密封块,所述密封块周侧与壳体内壁贴合,且所述密封块右侧与第二管路固定连接,且所述第二管路贯通限位块,并与所述限位块贯通处接触配合;
所述第一管路右侧固定设有挡块,所述挡块左侧与壳体左侧内壁贴合,且所述挡块右侧与密封块抵接,所述壳体上还设有孔洞。
优选的,所述第一管路上还设有固定装置,所述固定装置包括装置壳体,所述装置壳体固定设置于第一管路周侧,所述装置壳体上固定设有加热器,所述装置壳体内设有水箱,所述加热器与水箱电连接,所述水箱固定设于第一管路周侧,且所述水箱与装置壳体左侧内壁固定连接,所述水箱上下两端均贯通连接有第一水管和第二水管,且所述第一水管和第二水管贯通连接,所述第一水管上贯通连接有第一水泵,所述第二水管上贯通连接有第二水泵;
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