[发明专利]一种绝缘片的热压检测方法及系统

权利要求书

1.一种绝缘片的热压检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤100：将经过热压弯折的绝缘片输送至第一检测工位上，所述绝缘片经过热压形成有弯角，且其表面上装配有多个表面元件；

步骤200：采用第一摄像头拍摄位于所述第一检测工位上的绝缘片表面，以得到表面图像；

步骤300：依据得到的表面图像检测判断所述绝缘片的各个表面元件是否合格；

步骤400：根据所述表面图像的检测判断结果，对所述第一检测工位上的绝缘片进行分拣；

步骤500：将表面元件检测合格的绝缘片继续输送至第二检测工位上；

步骤600：采用两个第二摄像头拍摄位于所述第二检测工位上的绝缘片的弯角两端，以得到第一弯角图像和第二弯角图像；

步骤700：根据得到的第一弯角图像和第二弯角图像检测判断所述绝缘片的弯角是否合格；

步骤800：根据所述第一弯角图像和第二弯角图像的检测判断结果，对所述第二检测工位上的绝缘片进行分拣。

2.根据权利要求1所述的绝缘片的热压检测方法，其特征在于，在步骤300中，依据得到的表面图像检测判断所述绝缘片的各个表面元件是否合格的步骤如下：

步骤301：在所述表面图像中识别所述绝缘片的外形以及各个表面元件的数量和图像位置；

步骤302：根据所述绝缘片的外形以及各个表面元件的图像位置，计算出各个表面元件在所述绝缘片上的装配位置；

步骤303：若计算出的各个表面元件的数量与预设的数量相一致，且计算出的各个表面元件在所述绝缘片上的装配位置在预设的装配范围内，则判断所述绝缘片的表面元件检测合格。

3.根据权利要求2所述的绝缘片的热压检测方法，其特征在于，在步骤301中，所述绝缘片的外形可通过先将所述表面图像转换为表面灰度图像，然后对所述表面灰度图像进行二值化处理，得到表面二值化图像，接着对所述表面二值化图像进行边缘检测，得到所述绝缘片的外形边缘，最后将所述绝缘片的外形边缘提取出来作为所述绝缘片的外形。

4.根据权利要求3所述的绝缘片的热压检测方法，其特征在于，在所述表面二值化图像中提取所述绝缘片的外形边缘时，对所述绝缘片的外形边缘所描绘的图案内部区域进行像素填充，对所述绝缘片的外形边缘所描绘的图案外部区域进行像素删除。

5.根据权利要求2所述的绝缘片的热压检测方法，其特征在于，在步骤301中，根据各个表面元件与所述绝缘片之间的反射率差异或颜色差异来对各个表面元件进行识别，或者根据各个表面元件上的标识来对各个表面元件进行识别，进而识别各个表面元件的数量和图像位置。

6.根据权利要求1所述的绝缘片的热压检测方法，其特征在于，在步骤700中，根据得到的第一弯角图像和第二弯角图像检测判断所述绝缘片的弯角是否合格的步骤如下：

步骤701：将所述第一弯角图像和第二弯角图像转换为第一弯角灰度图像和第二弯角灰度图像；

步骤702：将所述第一弯角灰度图像和第二弯角灰度图像进行二值化处理，得到第一弯角二值化图像和第二弯角二值化图像；

步骤703：对所述第一弯角二值化图像和第二弯角二值化图像进行边缘检测，得到所述绝缘片的弯角两端边缘；

步骤704：对所述绝缘片的弯角两端边缘进行直线拟合，计算出所述绝缘片的弯角两端的角度；

步骤705：若计算出的弯角两端的角度均在预设的角度范围内，且所述弯角两端的角度之差也在预设的差值范围内，则判断所述绝缘片的弯角检测合格。