[发明专利]一种ITO靶材与Mo背板的焊接方法在审
申请号: | 202210664566.9 | 申请日: | 2022-06-13 |
公开(公告)号: | CN114833417A | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 姚力军;潘杰;王学泽;周友平;宋阳阳;吴东青;孙慧芳 | 申请(专利权)人: | 宁波江丰电子材料股份有限公司 |
主分类号: | B23K3/00 | 分类号: | B23K3/00 |
代理公司: | 北京远智汇知识产权代理有限公司 11659 | 代理人: | 韩承志 |
地址: | 315400 浙江省宁波市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 ito mo 背板 焊接 方法 | ||
本发明涉及一种ITO靶材与Mo背板的焊接方法,所述焊接方法包括如下步骤:(1)ITO靶材与Mo背板分别升温至目标温度;(2)维持ITO靶材与Mo背板的温度不变,对ITO靶材的焊接面以及Mo背板的焊接面进行浸润;(3)于Mo背板的焊接面形成焊料槽,并在焊料槽中添加熔融的焊料,将ITO靶材与焊料槽贴合设置;(4)ITO靶材的表面设置缓冲层,施加压力过程中自然降温,完成ITO靶材与Mo背板的焊接。本发明提供的焊接方法,ITO靶材与Mo背板在焊接过程中不易变形,且焊接结合率高,提高了ITO靶材与背板的焊接质量,保证了磁控溅射的质量。
技术领域
本发明属于半导体材料技术领域,涉及一种靶材与背板的绑定方法,尤其涉及一种ITO靶材与Mo背板的钎焊方法。
背景技术
溅射镀膜技术通常是利用气体放电产生气体电离,其正离子在电场作用下高速轰击阴极靶材,击出阴极靶材原子或分子,飞向被镀基体表面沉积薄膜。目前溅射镀膜技术包括射频溅射、三级溅射以及磁控溅射,其中,磁控溅射由于相对其它溅射技术具有较高的镀膜速率,成为目前的主流镀膜方法。
ITO(铟锡氧化物)靶材是生产ITO薄膜的原材料,ITO平面靶材或旋转靶材的绑定质量直接影响ITO薄膜生产时的导电和导热性能。ITO平面靶材或旋转靶材的导电和导热性能不良,直接影响生产所得ITO薄膜的品质。由于ITO靶材的材质偏硬,在实际生产中因冷热温度急剧变化产生应力聚集而产生破裂,焊接结合率低,生产效率不高。
CN 113699499A公开了一种靶材结构及其制作方法,所述靶材结构包括铜背板,铜背板上设有靶材,靶材分割成若干块设在铜背板上,每块靶材与铜背板之间设有绑定金属层,所述绑定金属层由铜铟合金成型,若干块靶材之间形成靶材间隙,靶材间隙设有填充物。其通过靶材间隙填充物的设置,阻挡高能电子直接轰击裸露的铜背板,阻挡溅射出来的铜原子污染靶材材料以及器件中的薄膜纯度,有利于综合靶材由于热胀冷缩而产生的拉伸的应力,减少了靶材开裂和变形的风险。但由于其将靶材分块,在实际生产中难以保证靶材设置的平面度,进而影响溅射效果。
CN 103737140A公开了一种ITO靶材与铜背板的绑定方法,该ITO靶材与铜背板的绑定方法将ITO靶材放置于铜背板上;对铜背板进行加热,通过钎焊将所述ITO靶材贴合在铜背板上;及在ITO靶材的远离所述铜背板的表面上防止配重块,待所述ITO靶材冷却后取下所述配重块的步骤。该方法中,铜背板在升温过程中的变形量减少,提高了粘贴面的平整度,提高了ITO靶材的绑定质量,而配重块的设置解决了铟流动性不均匀的问题,避免了粘贴面气孔的产生。但在实际生产过程中,难以可以靶材与背板膨胀系数不同带来的形变问题。
CN 111014933A公开了一种提升靶材焊合率的方法,所述方法包括提供一背板,其在一表面规定为第一焊合面;提供一靶材,其在一表面规定为第二焊合面;在焊料熔融状态下,对第一焊合面金属化处理,其面上形成第一焊料层;在焊料熔融状态下,对第二焊合面金属化处理,其面上形成第二焊料层,在焊料熔融状态下将超声波振动施加于焊接部位焊料,让第一焊料层与第二焊料层进行软焊接合。其通过多层焊料层的设置提高了靶材与背板的焊合率,但对施加超声波的操作要求较高,工业生产效率较低。
对此,需要提供一种适用于ITO靶材与Mo背板的焊接方法,使该焊接方法操作简单,适用于工业化生产,且使ITO靶材与Mo背板具有较高的焊接结合率。
发明内容
本发明的目的在于提供一种ITO靶材与Mo背板的焊接方法,该焊接方法能够克服靶材与背板在焊接过程中的变形,能够保证靶材与背板的焊接质量,进而保证磁控溅射的效果。
为达到此发明目的,本发明采用以下技术方案:
本发明提供了一种ITO靶材与Mo背板的焊接方法,所述焊接方法包括如下步骤:
(1)ITO靶材与Mo背板分别升温至目标温度;
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