[发明专利]PCB缺陷检测方法、电路板计量测量方法及制作方法

说明书

本发明公开了一种PCB缺陷检测方法、电路板计量测量方法及制作方法，检测方法包括：将待检测的电路板的PCB设计文档输入AOI设备，PCB设计文档包括电路板上各个对象的尺寸设计信息；利用AOI设备对电路板进行扫描，得到扫描图像，并获取AOI设备当前设定的像素单元尺寸；响应于对至少一个目标对象的检测请求的触发信号，确定目标对象在PCB扫描图像中在请求计量方向上所占的像素数量；根据AOI设备当前的像素单元尺寸和目标对象所占的像素数量，计算目标对象在请求计量方向上的尺寸；比对目标对象在请求计量方向上的尺寸与该目标对象在设计文档中的尺寸，若尺寸差值超出预设的差值阈值，则确定电路板的该目标对象存在缺陷。

技术领域

本发明涉及PCB检测领域，尤其涉及一种PCB缺陷检测方法、电路板计量测量方法及制作方法。

背景技术

自动光学检测（Automated Optical Inspection，简称AOI）设备现已成为电子制造业确保产品质量的重要检测工具和过程质量控制工具，其配置有线扫相机，对电路板进行线扫，然后将线扫的子图像拼接得到完整的PCB扫描图像。

常规的PCB缺陷检测的手段为AOI设备通过将检测点与数据库中的合格参数进行比较，经过图像处理，检查出被测产品上的缺陷。

但是目前的AI检测模型的精确度不足，导致检测错误的情况时有发生，影响缺陷识别的准确率。

以上背景技术内容的公开仅用于辅助理解本发明的发明构思及技术方案，其并不必然属于本专利申请的现有技术，也不必然会给出技术教导；在没有明确的证据表明上述内容在本专利申请的申请日之前已经公开的情况下，上述背景技术不应当用于评价本申请的新颖性和创造性。

发明内容

本发明的目的是提供一种PCB缺陷检测方法、电路板计量测量方法及制作方法，利用AOI设备的扫描图像快速对PCB上的对象进行二维计量，利用电路板计量测量数据作为检测电路板缺陷的依据，提高缺陷检测识别准确率。

为达到上述目的，本发明采用的技术方案如下：

一种PCB缺陷检测方法，包括：

将待检测的电路板的PCB设计文档输入AOI设备，所述PCB设计文档包括电路板上各个对象的尺寸设计信息；

利用AOI设备对待检测的电路板进行扫描，得到PCB扫描图像，并获取所述AOI设备当前设定的像素单元尺寸；

响应于对至少一个目标对象的检测请求的触发信号，确定所述目标对象在所述PCB扫描图像中在请求计量方向上所占的像素数量；

根据所述AOI设备当前设定的像素单元尺寸和所述目标对象所占的像素数量，计算所述目标对象在请求计量方向上的尺寸；

比对所述目标对象在请求计量方向上的尺寸的计算结果与该目标对象在所述PCB设计文档中的尺寸设计信息，若尺寸差值超出预设的差值阈值，则确定所述电路板的该目标对象存在缺陷。

进一步地，对一目标对象的检测请求的触发信号包括：

预先将所述PCB扫描图像和PCB设计文档中的对应的PCB设计图像输入二维计量软件中进行显示；

将所述PCB扫描图像与PCB设计图像进行映射关联；

在所述PCB扫描图像的显示界面上选择目标对象，并确定计量方向；并确定在所述PCB设计图像中与被选择的目标对象相关联的映射对象。

进一步地，对一目标对象的检测请求的触发信号包括：

预先将所述PCB扫描图像和PCB设计文档中的对应的PCB设计图像输入二维计量软件中进行显示；

将所述PCB扫描图像与PCB设计图像进行映射关联；