[发明专利]分批炉组件和操作分批炉组件的方法在审
申请号: | 202210704428.9 | 申请日: | 2022-06-21 |
公开(公告)号: | CN115523754A | 公开(公告)日: | 2022-12-27 |
发明(设计)人: | T.G.M.奥斯特拉肯;L.吉迪拉;H.特霍斯特 | 申请(专利权)人: | ASMIP私人控股有限公司 |
主分类号: | F27B17/00 | 分类号: | F27B17/00;F27D1/18;F27D5/00;F27D19/00;F27D21/00;H01L21/67 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 焦玉恒 |
地址: | 荷兰阿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分批 组件 操作 方法 | ||
1.一种用于处理晶片的分批炉组件(10),包括:
处理室壳体(12),其限定具有处理气体入口(16)和排气装置(18)的处理室(14),其中处理室壳体(12)具有处理室开口(20);
限定晶片舟室(24)的晶片舟壳体(22),其中处理室开口(20)将处理室(14)与晶片舟室(24)连接,用于在晶片舟室(24)和处理室(14)之间传送晶片舟(80);
具有关闭位置的门组件(26),在关闭位置,门组件(26)关闭处理室开口(20),其中门组件(26)在关闭位置限定门组件室(28),该门组件室(28)具有用于向门组件室(28)供应吹扫气体的吹扫气体入口(30),用于将处理室(14)与晶片舟室(24)气体密封地分开;
差压传感器组件(32),其流体连接到门组件室(28)和参考压力室(18、24),并配置成确定门组件室(28)中的压力和参考压力室(18,24)中的参考压力之间的压差;以及
控制器(34),其配置成确定压差是否在期望压力范围内,以确认门组件(26)有效地关闭处理室开口(20)。
2.根据权利要求1所述的分批炉组件,其中,所述参考压力室(18、24)是所述晶片舟室(24),所述参考压力是晶片舟室(24)中的压力。
3.根据权利要求1所述的分批炉组件,其中,所述参考压力室(18、24)是所述排气装置(18),所述参考压力是排气装置(18)中的压力。
4.根据前述权利要求中任一项所述的分批炉组件,其中,所述处理室壳体(12)包括石英管(36)和支撑所述石英管(36)的金属凸缘(38);
其中,所述门组件(26)包括:
包括第一密封件(42)的第一门板(40),该第一密封件在所述关闭位置接合处理室壳体(12)的金属凸缘(38),
包括第二密封件(46)的第二门板(44),该第二密封件在所述关闭位置接合处理室壳体(12)的石英管(36);
相对于第一门板(40)和第二门板(44)可旋转地安装的第三门板(48);
在第二门板(44)和可旋转第三门板(48)之间的扩散阻挡件(50),
其中,在门组件(26)的关闭位置,所述门组件室(28)由第一密封件(42)和扩散阻挡件(50)界定,其中,在使用中,经由所述吹扫气体入口(30)供应的吹扫气体经由扩散阻挡件(50)流至排气装置(18)。
5.根据前述权利要求中任一项所述的分批炉组件,其中,在使用中,经由所述吹扫气体入口(30)供应的吹扫气体以基本固定体积流量供应。
6.根据权利要求4和5所述的分批炉组件,其中,所述门组件室(28)包括限流器(52),并且其中,在使用中,从所述吹扫气体入口(30)到所述扩散阻挡件(50)的吹扫气体流流过门组件室(28)中的限流器(52)。
7.根据权利要求6所述的分批炉,其中,所述差压传感器组件(32)流体连接到第一门组件室部分(28a),当沿吹扫气体的流动方向观察时,所述第一门组件室部分(28a)位于所述限流器(52)的上游。
8.根据权利要求6或7所述的分批炉组件,包括位于所述第一门板(40)和第二门板(44)之间的石英环(54),其中,所述限流器(52)是石英环(54)中的至少一个孔(56)。
9.根据至少从属于权利要求4的前述权利要求中任一项所述的分批炉组件,其中,所述可旋转第三门板(48)配置为支撑晶片舟(80)。
10.根据至少从属于权利要求4的前述权利要求中任一项所述的分批炉组件,其中,所述扩散阻挡件(50)包括位于所述第二门板(44)上的环形突起(58),所述环形突起具有顶部(60),所述顶部定位成靠近所述第三门板(48)的底部表面(62)。
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