[发明专利]半导体装置及监测半导体装置的温度的方法

说明书

一种半导体装置及监测半导体装置的温度的方法，半导体装置包括：温度无关电流产生器，产生实质上与温度无关的参考电流及为参考电流实质上的复制品的镜像电流；脉冲信号产生器，对镜像电流进行采样以产生脉冲信号；及计数器，获取由脉冲信号产生器产生的脉冲信号的数量，当判定由此获得的脉冲信号的数量小于预定临限值时，允许脉冲信号产生器产生脉冲信号，且当判定由此获得的脉冲信号的数量等于预定临限值时，禁止脉冲信号产生器产生脉冲信号。

技术领域

本揭示是关于一种半导体装置，特别是关于一种包含温度无关电流产生器的半导体装置。

背景技术

诸如集成电路(integrated circuit，IC)的半导体装置指定为在温度范围内操作。通常，若半导体装置高速运行，则由此产生的热量增加。

发明内容

本揭示的一实施例提供一种半导体装置，包含温度无关电流产生器、第一脉冲信号产生器以及第一计数器。温度无关电流产生器用以产生与温度无关的参考电流及为参考电流的复制品的镜像电流。第一脉冲信号产生器耦接至温度无关电流产生器且用以对镜像电流进行采样以产生脉冲信号。第一计数器耦接至第一脉冲信号产生器且用以获取由第一脉冲信号产生器产生的脉冲信号的第一数量。当判定由此获得的脉冲信号的第一数量小于预定临限值时，允许第一脉冲信号产生器产生脉冲信号，且当判定由此获得的脉冲信号的第一数量等于预定临限值时，禁止第一脉冲信号产生器产生脉冲信号。

本揭示的另一实施例提供一种半导体装置，包含温度相关电流产生器、第二脉冲信号产生器以及第二计数器。温度相关电流产生器用以产生与温度相关的温度相关电流。第二脉冲信号产生器耦接至温度相关电流产生器且用以对温度相关电流进行采样以产生脉冲信号。第二计数器耦接至第二脉冲信号产生器且用以获取由第二脉冲信号产生器产生的脉冲信号的数量。当判定由此获得的脉冲信号的数量小于预定临限值时，允许第二脉冲信号产生器产生脉冲信号，且当判定由此获得的脉冲信号的数量等于预定临限值时，禁止第二脉冲信号产生器产生脉冲信号。

本揭示的另一实施例提供一种监测半导体装置的温度的方法，包含以下步骤：产生与温度无关的参考电流；复制参考电流以产生第一镜像电流、第二镜像电流及第三镜像电流；采样第一镜像电流以产生多个第一脉冲信号；计数第一脉冲信号的第一数量以产生第一数字码；基于第二镜像电流及第三镜像电流产生与温度相关的温度相关电流；采样温度相关电流以产生多个第二脉冲信号；以及计数第二脉冲信号的第二数量以产生第二数字码，由此使用第一数字码及第二数字码监测半导体装置的温度。

附图说明

结合附图，根据以下详细描述可以最好地理解本揭示内容的各态样。

图1为说明根据本揭示内容的各种实施例的例示性半导体装置的示意性方块图；

图2为说明根据本揭示内容的各种实施例的例示性温度无关电流产生器的示意性电路图；

图3A为说明根据本揭示内容的各种实施例的例示性第一脉冲信号产生器的示意性电路图；

图3B为说明根据本揭示内容的各种实施例的例示性第二脉冲信号产生器的示意性电路图；

图4为说明根据本揭示内容的各种实施例的例示性开关的示意性电路图；

图5为说明根据本揭示内容的各种实施例的例示性温度相关电流产生器的示意性电路图；

图6为说明根据本揭示内容的各种实施例的例示性电流失配校正电路/电压偏移校正电路的示意性电路图；

图7为说明根据本揭示内容的各种实施例的另一例示性温度相关电流产生器的示意性电路图；

图8为说明根据本揭示内容的各种实施例的另一例示性温度相关电流产生器的示意性电路图；

图9为说明根据本揭示内容的各种实施例的例示性第一计数器的示意性电路图；