[发明专利]一种工业X射线成像参数自适应控制方法

权利要求书

1.一种工业X射线成像参数自适应控制方法，其特征在于，包括以下步骤：

S01、根据系统成像动态范围，设定图像亮度目标B；

S02、根据被检试件不同的材质M，建立被检试件的最佳成像质量的kV-mA曲线，作为先验知识存储于成像系统；

S03、对被检测试件进行X射线成像时，输入被检试件的材质M或近似材质，系统自动选择相应的kV-mA曲线，自动确定合适的成像参数管电压kV、管电流mA和/或成像增益G，达到恒定的图像亮度B，进而获得最佳的图像质量。

2.根据权利要求1所述的工业X射线成像参数自适应控制方法，其特征在于，所述步骤S02中，包括以下具体步骤：

S0201、将像质计置于材质M、厚度T的被检试件下，设定不同的管电压和管电流组合，以达到恒定的图像亮度B，选定最佳的管电压和管电流组合；

S0202、持续增加或者减少材质M的被检试件的厚度T，重复步骤S0201，选定不同厚度T下，最佳的管电压和管电流组合，根据不同厚度T下最佳的管电压和管电流组合，拟合材质M的被检试件的最佳成像质量的kV-mA曲线；

S0203、改变被检试件材质M，重复步骤S0201及S0202，获得不同材质M下的最佳成像质量的kV-mA曲线。

3.根据权利要求2所述的工业X射线成像参数自适应控制方法，其特征在于，所述步骤S0201中，通过观察像质计图像，选定能看到最多像质计丝的管电压和管电流组合，作为与材质M、厚度T的被检试件对应的最佳的管电压和管电流组合。

4.根据权利要求2所述的工业X射线成像参数自适应控制方法，其特征在于，在步骤S0202中，持续增加材质M的被检试件的厚度T过程中，若管电流达到最大限值，通过增加成像增益G，以达到一致的图像亮度B。

5.根据权利要求2所述的工业X射线成像参数自适应控制方法，其特征在于，在步骤S0202中，持续增加被检试件的厚度T时，直至厚度增加到射线管电压kV的最大限值。

6.根据权利要求1所述的工业X射线成像参数自适应控制方法，其特征在于，在步骤S03中，系统自动选择相应的kV-mA曲线，自动设定初始管电压和管电流，进行X射线曝光成像后，检测图像亮度是否达到目标B值，如果图像亮度没有达到目标B值，根据kV-mA曲线更新管电压和管电流，再次X射线曝光成像，直到图像亮度达到目标B值。