[发明专利]一种工业X射线成像参数自适应控制方法

说明书

本发明公开了一种工业X射线成像参数自适应控制方法，包括以下步骤：S01、根据系统成像动态范围，设定图像亮度目标B；S02、根据被检试件不同的材质M，建立被检试件的最佳成像质量的kV‑mA曲线，作为先验知识存储于成像系统；S03、对被检测试件进行X射线成像时，输入被检试件的材质M或近似材质，系统自动选择相应的kV‑mA曲线，自动确定合适的成像参数管电压kV、管电流mA和/或成像增益G，达到恒定的图像亮度B，进而获得最佳的图像质量。通过上述方式，本发明所述的工业X射线成像参数自适应控制方法，根据被检试件的材质，系统会自动确定合适的成像参数管电压、管电流和（或）成像增益，以获得最佳的图像质量，操作简便。

技术领域

本发明涉及工业无损检测领域，特别是涉及一种工业X射线成像参数自适应控制方法。

背景技术

X射线无损检测是在不破坏被检测试件的情况下，以X射线成像获取被检测试件内部图像，据此图像对被检试件进行判读和计量。

用户在对被检测试件进行X射线成像时，通常需要反复手动调节X射线管的管电压、管电流和（或）成像器的增益或积分时间，不断试探着去确定合适的成像参数管电压、管电流及成像增益，以获得最佳的图像质量，因此，具有以下缺陷和不足：

1、调节试探的过程非常麻烦、耗时；

2、对缺乏经验的用户，很难确定合适的成像参数，进而难以获得最佳的图像质量；

3、当对被检试件进行多角度X射线自动透视成像时（例如CT旋转扫描透视），在不同的透视角度下，由于被检试件形状或厚度不规则，对X射线成像参数的要求通常是不一样的，但此时用户无法同步调节X射线成像参数，导致在不同透视角度无法获得一致的最佳成像质量，若以CT旋转扫描透视为例，重建的CT图像也会产生图像伪影的问题，需要进行改进。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种工业X射线成像参数自适应控制方法，自动调节X射线成像参数，降低操作难度，确保获得的图像质量。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种工业X射线成像参数自适应控制方法，包括以下步骤：

S01、根据系统成像动态范围，设定图像亮度目标B；

S02、根据被检试件不同的材质M，建立被检试件的最佳成像质量的kV-mA曲线，作为先验知识存储于成像系统；

S03、对被检测试件进行X射线成像时，输入被检试件的材质M或近似材质，系统自动选择相应的kV-mA曲线，自动确定合适的成像参数管电压kV、管电流mA和/或成像增益G，达到恒定的图像亮度B，进而获得最佳的图像质量。

在本发明一个较佳实施例中，所述步骤S02中，包括以下具体步骤：

S0201、将像质计置于材质M、厚度T的被检试件下，设定不同的管电压和管电流组合，以达到恒定的图像亮度B，选定最佳的管电压和管电流组合；

S0202、持续增加或者减少材质M的被检试件的厚度T，重复步骤S0201，选定不同厚度T下，最佳的管电压和管电流组合，根据不同厚度T下最佳的管电压和管电流组合，拟合材质M的被检试件的最佳成像质量的kV-mA曲线；

S0203、改变被检试件材质M，重复步骤S0201及S0202，获得不同材质M下的最佳成像质量的kV-mA曲线。

在本发明一个较佳实施例中，所述步骤S0201中，通过观察像质计图像，选定能看到最多像质计丝的管电压和管电流组合，作为与材质M、厚度T的被检试件对应的最佳的管电压和管电流组合。

在本发明一个较佳实施例中，在步骤S0202中，持续增加材质M的被检试件的厚度T过程中，若管电流达到最大限值，通过增加成像增益G，以达到一致的图像亮度B。

在本发明一个较佳实施例中，在步骤S0202中，持续增加被检试件的厚度T时，直至厚度增加到射线管电压kV的最大限值。