[发明专利]对焦方法、装置、变焦设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 202210752341.9 申请日: 2022-06-29
公开(公告)号: CN114827481B 公开(公告)日: 2022-10-25
发明(设计)人: 杨俊杰;蒋念娟;沈小勇;吕江波 申请(专利权)人: 深圳思谋信息科技有限公司
主分类号: H04N5/232 分类号: H04N5/232
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 周清华
地址: 518051 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 对焦 方法 装置 变焦 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种对焦方法,其特征在于,所述方法包括:

根据对焦指令的当前采样参数和当前采样中心,得到采样位置组;

根据所述采样位置组中各采样位置对应的图像的清晰度,从所述采样位置组中,筛选得到满足预设清晰度条件的当前目标采样位置;

根据所述当前目标采样位置和所述当前目标采样位置的置信度,得到更新后的采样范围,并根据所述更新后的采样范围,对所述当前采样参数进行更新,得到所述更新后的采样参数;其中,所述更新后的采样范围通过对所述当前目标采样位置的目标绝对值和两倍的所述置信度进行相除得到;所述当前目标采样位置的目标绝对值通过从所述当前目标采样位置与所述当前采样参数中的采样区间的上界之间的差值的绝对值,以及所述当前目标采样位置与所述当前采样参数中的采样区间的下界之间的差值的绝对值中选择较大的绝对值得到;其中,所述更新后的采样参数包括更新后的采样步长、更新后的步长变化率、更新后的采样区间中的下界和更新后的采样区间中的上界;所述更新后的采样步长通过所述更新后的采样范围与所述当前采样参数中的采样区间的上界和下界之间的差值进行相除处理,并将相除处理后得到的结果与所述当前采样参数中的采样步长进行相乘处理得到;所述更新后的步长变化率通过所述当前采样参数中的步长变化率与0.5倍的所述置信度进行相加得到;所述更新后的采样区间中的下界通过从所述当前采样参数中的采样区间的下界,以及所述当前目标采样位置与所述更新后的采样范围的一半之间的差值中选择较大的值得到;所述更新后的采样区间中的上界通过从所述当前采样参数中的采样区间的上界,以及所述当前目标采样位置与所述更新后的采样范围的一半之间的和中选择较大的值得到;

在所述当前目标采样位置对应的图像的清晰度,大于历史采样位置组中的历史目标采样位置对应的图像的清晰度情况下,将所述当前目标采样位置作为所述更新后的采样中心;

将所述更新后的采样参数和所述更新后的采样中心,对应作为所述当前采样参数和所述当前采样中心,并跳转至所述根据对焦指令的当前采样参数和当前采样中心,得到采样位置组的步骤,直到满足预设终止条件;

根据所述满足预设终止条件对应的更新后的采样中心,得到所述对焦指令的目标对焦位置。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采样位置组中的采样位置与所述采样位置的前一采样位置之间的间隔,小于所述采样位置与所述采样位置的后一采样位置之间的间隔。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述当前采样参数包括当前采样区间、当前采样步长和当前步长变化率。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据对焦指令的当前采样参数和当前采样中心,得到采样位置组,包括:

根据所述对焦指令的当前采样参数,对所述当前采样中心进行向上采样,得到向上采样位置组;

根据所述当前采样参数,对所述当前采样中心进行向下采样,得到向下采样位置组;

将所述向上采样位置组、所述向下采样位置组和所述当前采样中心,作为所述采样位置组。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述对焦指令的当前采样参数,对所述当前采样中心进行向上采样,得到向上采样位置组,包括:

根据所述当前采样参数,对所述当前采样中心进行向上采样,得到向上采样位置;

根据所述向上采样位置和所述当前采样参数,对所述向上采样位置进行更新,得到更新后的向上采样位置;

将所述更新后的向上采样位置作为所述向上采样位置,并跳转至所述根据所述向上采样位置和所述当前采样参数,对所述向上采样位置进行更新,得到更新后的向上采样位置的步骤,直到所述更新后的向上采样位置满足第一采样终止条件;

根据各个所述向上采样位置,生成向上采样位置组。

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