[发明专利]对焦方法、装置、变焦设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种对焦方法、装置、变焦设备和存储介质。所述方法包括：根据对焦指令的当前采样参数和当前采样中心，得到采样位置组；根据采样位置组中各采样位置对应的图像的清晰度，从采样位置组中，筛选得到满足预设清晰度条件的当前目标采样位置；根据当前目标采样位置和当前目标采样位置的置信度，对当前采样参数和当前采样中心进行更新，得到更新后的采样参数和更新后的采样中心；将更新后的采样参数和更新后的采样中心，对应作为当前采样参数和当前采样中心，直到满足预设终止条件；根据满足预设终止条件对应的更新后的采样中心，得到对焦指令的目标对焦位置。采用本方法能够在提高自动对焦速度的同时，还提高自动对焦精度。

技术领域

本申请涉及影像技术领域，特别是涉及一种对焦方法、装置、变焦设备和存储介质。

背景技术

随着影像技术的发展，越来越多的自动对焦技术被广泛应用在相机上，使得人们拍摄图像或视频更方便。

传统的变焦技术，常使用爬山搜索算法进行自动对焦，但是爬山搜索算法的对焦速度慢，且容易陷入局部最优解，导致自动对焦效果较为一般。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够在提高自动对焦速度的同时，还能够提高自动对焦精度的对焦方法、装置、变焦设备和计算机可读存储介质。

第一方面，本申请提供了一种对焦方法。所述方法包括：

根据对焦指令的当前采样参数和当前采样中心，得到采样位置组；

根据所述采样位置组中各采样位置对应的图像的清晰度，从所述采样位置组中，筛选得到满足预设清晰度条件的当前目标采样位置；

根据所述当前目标采样位置和所述当前目标采样位置的置信度，对所述当前采样参数和所述当前采样中心进行更新，得到更新后的采样参数和更新后的采样中心；

将所述更新后的采样参数和所述更新后的采样中心，对应作为所述当前采样参数和所述当前采样中心，并跳转至所述根据对焦指令的当前采样参数和当前采样中心，得到采样位置组的步骤，直到满足预设终止条件；

根据所述满足预设终止条件的更新后的采样中心，得到所述对焦指令的目标对焦位置。

在其中一个实施例中，根据对焦指令的当前采样参数和当前采样中心，得到采样位置组，包括：

根据所述对焦指令的当前采样参数，对所述当前采样中心进行向上采样，得到向上采样位置组；

根据所述当前采样参数，对所述当前采样中心进行向下采样，得到向下采样位置组；

将所述向上采样位置组、所述向下采样位置组和所述当前采样中心，作为所述采样位置组。

在其中一个实施例中，根据所述对焦指令的当前采样参数，对所述当前采样中心进行向上采样，得到向上采样位置组，包括：

根据所述当前采样参数，对所述当前采样中心进行向上采样，得到向上采样位置；

根据所述向上采样位置和所述当前采样参数，对所述向上采样位置进行更新，得到更新后的向上采样位置；

将所述更新后的向上采样位置作为所述向上采样位置，并跳转至所述根据所述向上采样位置和所述当前采样参数，对所述向上采样位置进行更新，得到更新后的向上采样位置的步骤，直到所述更新后的向上采样位置满足第一采样终止条件；

根据各个所述向上采样位置，生成向上采样位置组。

在其中一个实施例中，根据所述当前采样参数，对所述当前采样中心进行向下采样，得到向下采样位置组，包括：

根据所述当前采样参数，对所述当前采样中心进行向下采样，得到向下采样位置；