[发明专利]基于超声导波的双层波纹管缺陷检测方法、试块和装置

权利要求书

1.一种基于超声导波的双层波纹管缺陷检测方法，其特征在于，所述方法，包括：

基于使用导波探头对外层检测试块的多个第一模拟缺陷的扫描结果，得到外层标准DAC曲线组；基于使用导波探头对内层检测试块的多个第二模拟缺陷的扫描结果，得到内层标准DAC曲线组；所述外层检测试块包括第一试块双层波纹管和设置于所述第一试块双层波纹管的多个第一模拟缺陷；其中所述第一模拟缺陷包括分别设置于所述第一试块双层波纹管外层的预设第一周向刻槽区的多个第一周向刻槽、预设第一通孔区的多个第一通孔和预设第一特殊刻槽区的多个第一特殊刻槽；所述内层检测试块包括第二试块双层波纹管和设置于所述第二试块双层波纹管的多个第二模拟缺陷；其中所述第二模拟缺陷包括分别设置于所述第二试块双层波纹管内层的预设第二周向刻槽区的多个第二周向刻槽、预设第二通孔区的多个第二通孔和预设第二特殊刻槽区的多个第二特殊刻槽；

基于使用导波探头对目标双层波纹管外层的第一周向扫描结果和所述外层标准DAC曲线组，检测所述目标双层波纹管的外层缺陷；基于使用导波探头对目标双层波纹管内层的第二周向扫描结果和所述内层标准DAC曲线组，检测所述目标双层波纹管的内层缺陷。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一周向刻槽分别设置于所述第一试块双层波纹管外层的多个第一预设波峰的内表面和多个第一预设波谷的外表面。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一通孔分别设置于所述第一试块双层波纹管外层的多个所述第一预设波峰和多个所述第一预设波谷。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一特殊刻槽包括与周向呈第一夹角的多个第一倾斜刻槽和与周向呈第二夹角的多个第二倾斜刻槽；其中，所述第一夹角和第二夹角为锐角。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一倾斜刻槽分别设置于所述第一试块双层波纹管外层的多个所述第一预设波峰的内表面和多个所述第一预设波谷的外表面；所述第二倾斜刻槽分别设置于所述第一试块双层波纹管外层的多个所述第一预设波峰的内表面和多个所述第一预设波谷的外表面。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，设置于所述第一试块双层波纹管的同一波峰的多个所述第一模拟缺陷之间的周向间隔距离大于预设的第一缺陷间隔距离；设置于所述第一试块双层波纹管的同一波谷的多个所述第一模拟缺陷之间的周向间隔距离大于所述第一缺陷间隔距离。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二周向刻槽分别设置于所述第二试块双层波纹管内层的多个第二预设波峰的内表面和多个第二预设波谷的外表面。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述第二通孔分别设置于所述第二试块双层波纹管内层的多个所述第二预设波峰和多个所述第二预设波谷。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述第二特殊刻槽包括与周向呈第三夹角的多个第三倾斜刻槽和与周向呈第四夹角的多个第四倾斜刻槽；其中，所述第三夹角和第四夹角为锐角。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述第三倾斜刻槽分别设置于所述第二试块双层波纹管内层的多个所述第二预设波峰的内表面和多个所述第二预设波谷的外表面；所述第四倾斜刻槽分别设置于所述第二试块双层波纹管内层的多个所述第二预设波峰的内表面和多个所述第二预设波谷的外表面。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，设置于所述第二试块双层波纹管的同一波峰的多个所述第二模拟缺陷之间的周向间隔距离大于预设的第二缺陷间隔距离；设置于所述第二试块双层波纹管的同一波谷的多个所述第二模拟缺陷之间的周向间隔距离大于所述第二缺陷间隔距离。