[发明专利]基于超声导波的双层波纹管缺陷检测方法、试块和装置

说明书

本发明提供了一种基于超声导波的双层波纹管缺陷检测方法、试块和装置，涉及探伤检测技术领域，所述方法包括：基于使用导波探头对多个第一模拟缺陷的扫描结果，得到外层标准DAC曲线组；基于使用导波探头对多个第二模拟缺陷的扫描结果，得到内层标准DAC曲线组；基于使用导波探头对目标双层波纹管外层的第一周向扫描结果和所述外层标准DAC曲线组，检测所述目标双层波纹管的外层缺陷；基于使用导波探头对目标双层波纹管内层的第二周向扫描结果和所述内层标准DAC曲线组，检测所述目标双层波纹管的内层缺陷。本发明能够减少检测双层波纹管缺陷的时间和难度，并提高检测的准确性，从而提高检测双层波纹管缺陷的效率。

技术领域

本发明涉及探伤检测技术领域，尤其涉及一种基于超声导波的双层波纹管缺陷检测方法、试块和装置。

背景技术

在气体绝缘金属封闭开关(GIS)设备中，双层波纹管常设置于分段母线的连接处，用于补偿管线安装误差、热胀冷缩、机械振动以及地基不均匀沉降等造成的水平和垂直位移。在复杂的外部环境和长期的交变工作应力的作用下，双层波纹管在运行阶段容易形成危害性较大的裂纹和点蚀孔等缺陷，从而容易导致设备中传输的气体通过上述缺陷泄漏，进而严重影响电网设备安全稳定运行。因此，有必要对双层波纹管的缺陷进行检测。

现有的双层波纹管缺陷检测方法，主要包括人工目视检测、基于渗透检测技术的渗透检测以及需要在波纹管的波峰和波谷分别设置对应超声导波探头的探伤检测。但是，人工目视检测依赖于检测人员的经验，从而很难发现波纹管的全部缺陷，检测准确性较低；渗透检测需要对波纹管整个表面施加试剂，且渗透、显像过程需要较长时间，且对检测时的光源和光照条件有一定要求，在检测时也不便于观察缺陷，且使用试剂容易造成环境污染；现有的探伤检测，需要基于波峰和波谷的数量设置较多导波探头，检测次数繁多，检测时需要花费较多时间和步骤来选取对应曲率表面的导波探头并仔细确定导波探头的具体位置，且对双层波纹管的内层进行检测时还需要将安装好的双层波纹管从对应设备上拆除，进一步增加了工序。综上所述，现有的双层波纹管缺陷检测方法，检测时间长、难度高，检测准确性差，从而导致检测效率低下。

发明内容

本发明的一个目的在于提供一种基于超声导波的双层波纹管缺陷检测方法，以解决现有的双层波纹管缺陷检测方法的检测时间长、难度高，检测准确性差，从而导致检测效率低下的问题。本发明的另一个目的在于提供一种试块。本发明的再一个目的在于提供一种基于超声导波的双层波纹管缺陷检测装置。本发明的还一个目的在于提供一种计算机设备。本发明的还一个目的在于提供一种可读介质。

为了达到以上目的，本发明的一方面公开了一种基于超声导波的双层波纹管缺陷检测，所述方法，包括：

基于使用导波探头对外层检测试块的多个第一模拟缺陷的扫描结果，得到外层标准DAC曲线组；基于使用导波探头对内层检测试块的多个所述第二模拟缺陷的扫描结果，得到内层标准DAC曲线组；所述外层检测试块包括第一试块双层波纹管和设置于所述第一试块双层波纹管的多个第一模拟缺陷；其中所述第一模拟缺陷包括分别设置于所述第一试块双层波纹管外层的预设第一周向刻槽区的多个第一周向刻槽、预设第一通孔区的多个第一通孔和预设第一特殊刻槽区的多个第一特殊刻槽；所述内层检测试块包括第二试块双层波纹管和设置于所述第二试块双层波纹管的多个第二模拟缺陷；其中所述第二模拟缺陷包括分别设置于所述第二试块双层波纹管内层的预设第二周向刻槽区的多个第二周向刻槽、预设第二通孔区的多个第二通孔和预设第二特殊刻槽区的多个第二特殊刻槽；

基于使用导波探头对目标双层波纹管外层的第一周向扫描结果和所述外层标准DAC曲线组，检测所述目标双层波纹管的外层缺陷；基于使用导波探头对目标双层波纹管内层的第二周向扫描结果和所述内层标准DAC曲线组，检测所述目标双层波纹管的内层缺陷。

可选的，所述第一周向刻槽分别设置于所述第一试块双层波纹管外层的多个第一预设波峰的内表面和多个第一预设波谷的外表面。

可选的，所述第一通孔分别设置于所述第一试块双层波纹管外层的多个所述第一预设波峰和多个所述第一预设波谷。