[发明专利]一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法在审

专利信息
申请号: 202210759521.X 申请日: 2022-06-29
公开(公告)号: CN115166035A 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 薛峰;夏玉秀;张义凤;蒋建生 申请(专利权)人: 上海材料研究所
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/26;G01N29/44
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 宣慧兰
地址: 200437*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 自动 超声 检测 系统 增益 适应 调节 方法
【权利要求书】:

1.一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法,其特征在于,具体包括以下步骤:

S1、获取超声检测系统操作软件上的初次粗略检测增益值、检测范围和检测速度、换能器初始位置;

S2、采样得到所检样品的A扫波形图像、B扫波形图像和C扫波形图像进而得到每一个采样坐标点的回波百分比高度;

S3、对比所检样品的全部采样点的A扫波形图像的回波高度百分比与预设的参考波高的关系,根据整体坐标点的波高情况调节探头增益值。

2.根据权利要求1所述的一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法,其特征在于,所述步骤S3还包括记录每个采样点的A扫波形图像的回波高度百分比及坐标位置。

3.根据权利要求1所述的一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法,其特征在于,所述步骤S3中A扫波形图像的回波高度百分比与预设的参考波高的关系包括A扫波形图像的回波高度小于参考波高、A扫波形图像的回波高度大于参考波高。

4.根据权利要求3所述的一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法,其特征在于,所述A扫波形图像的回波高度大于参考波高时的关系情况包括采样波高小于100%满屏高度、采样波高大于100%满屏高度。

5.根据权利要求4所述的一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法,其特征在于,所述采样波高大于100%满屏高度时,计算出所有超出100%满屏高度的波形和100%满屏高度交叉的时间的差值,定位波形时间差值最大的坐标点,逐步减少超声检测系统的增益值直到该点的采样波高降低到预设的参考波高,将此时的增益值作为超声检测系统的整体增益值。

6.根据权利要求5所述的一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法,其特征在于,所述步骤S3中调节探头增益值的过程具体为计算用于调节整体增益值的波动增益值,根据A扫波形图像的回波高度百分比与预设的参考波高的关系,在超声检测系统的整体增益值上减去或增加波动增益值。

7.根据权利要求6所述的一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法,其特征在于,所述波动增益值的计算过程具体为计算出所有采样点的波高平均值,将波高平均值与参考波高的百分比差值换算得到波动增益值。

8.根据权利要求6所述的一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法,其特征在于,所述A扫波形图像的回波高度小于参考波高时,将波动增益值增加在超声检测系统的整体增益值上。

9.根据权利要求6所述的一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法,其特征在于,所述A扫波形图像的回波高度大于参考波高且小于100%满屏高度时,计算出所有采样点的波高平均值,当波高平均值大于设定的参考波高时,在超声检测系统的整体增益值上减去波动增益值。

10.根据权利要求6所述的一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法,其特征在于,所述A扫波形图像的回波高度大于参考波高且小于100%满屏高度时,计算出所有采样点的波高平均值,当波高平均值小于设定的参考波高时,将波动增益值增加在超声检测系统的整体增益值上。

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