[发明专利]一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法

说明书

本发明涉及一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法，具体包括以下步骤：S1、获取超声检测系统操作软件上的初次粗略检测增益值、检测范围和检测速度、换能器初始位置；S2、采样得到所检样品的A扫波形图像、B扫波形图像和C扫波形图像进而得到每一个采样坐标点的回波百分比高度；S3、对比所检样品的全部采样点的A扫波形图像的回波高度百分比与预设的参考波高的关系，根据整体坐标点的波高情况调节探头增益值。与现有技术相比，本发明具有提高检测分辨力，提高系统的自适应能力，减少人工参与，利用算法能够自动、高效、准确的进行整体增益调节，得到更加理想的检测结果等优点。

技术领域

本发明涉及自动超声波探伤技术领域，尤其是涉及一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法。

背景技术

在自动超声波探伤中，对于工件探伤区域，换能器增益和换能器扫描速度需要人工凭经验设定，通常先手动调节换能器X轴Y轴坐标以粗略掌握整体回波高度，在这一过程中，操作人员需要不断调整探头位置以及探头增益值的增减，耗时长且不准确，很难快速确定对于要检测工件的恰当增益值。

发明内容

本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法，根据自动超声检测系统采样的回波高度来自动进行增益调节，改善人工调节效率低、不准确的问题。

本发明的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种基于自动超声检测系统的增益自动适应调节方法，具体包括以下步骤：

S1、获取超声检测系统操作软件上的初次粗略检测增益值、检测范围和检测速度、换能器初始位置；

S2、采样得到所检样品的A扫波形图像、B扫波形图像和C扫波形图像进而得到每一个采样坐标点的回波百分比高度；

S3、对比所检样品的全部采样点的A扫波形图像的回波高度百分比与预设的参考波高的关系，根据整体坐标点的波高情况调节探头增益值。

所述步骤S3还包括记录每个采样点的A扫波形图像的回波高度百分比及坐标位置，具体为(X_i,i，Y_i,i，H_i,i％)，其中(X_i,i，Y_i,i)为采样点的坐标，H_i,i％为采样点的百分比高度值。

所述步骤S3中A扫波形图像的回波高度百分比与预设的参考波高的关系包括A扫波形图像的回波高度小于参考波高、A扫波形图像的回波高度大于参考波高。

进一步地，所述A扫波形图像的回波高度大于参考波高时的关系情况包括采样波高小于100％满屏高度、采样波高大于100％满屏高度。

所述采样波高大于100％满屏高度时，计算出所有超出100％满屏高度的波形和100％满屏高度交叉的时间的差值，定位波形时间差值最大的坐标点，逐步减少超声检测系统的增益值直到该点的采样波高降低到预设的参考波高，将此时的增益值作为超声检测系统的整体增益值。

所述步骤S3中调节探头增益值的过程具体为计算用于调节整体增益值的波动增益值，根据A扫波形图像的回波高度百分比与预设的参考波高的关系，在超声检测系统的整体增益值上减去或增加波动增益值。

进一步地，所述波动增益值的计算过程具体为计算出所有采样点的波高平均值，将波高平均值与参考波高的百分比差值换算得到波动增益值。

所述A扫波形图像的回波高度小于参考波高时，将波动增益值增加在超声检测系统的整体增益值上。

所述A扫波形图像的回波高度大于参考波高且小于100％满屏高度时，计算出所有采样点的波高平均值，当波高平均值大于设定的参考波高时，在超声检测系统的整体增益值上减去波动增益值。