[发明专利]一种双脉冲测试方法、装置、设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202210762686.2 申请日: 2022-06-30
公开(公告)号: CN115097278A 公开(公告)日: 2022-09-23
发明(设计)人: 张朝山;张续龙;吕琳;高原;万萌;高战军;常安安 申请(专利权)人: 特变电工西安电气科技有限公司;特变电工新疆新能源股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 范巍
地址: 710119 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 脉冲 测试 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种双脉冲测试方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、设置示波器的工作模式;向IGBT发送双脉冲测试信号,示波器接收并显示IGBT接收所述双脉冲测试信号时生成的双脉冲波形数据;

S2、通过上位机读取示波器的双脉冲波形数据;

S3、对读取的双脉冲波形数据进行计算和存储:

S3.1、基于双脉冲IGBT动态参数计算方法,利用双脉冲波形数据计算IGBT的双脉冲参数,双脉冲参数包括驱动参数、电压参数、电流参数、二极管参数、开关关断参数和杂散电感;

S3.2、将双脉冲参数和双脉冲波形数据存储到上位机中。

2.根据权利要求1所述的一种双脉冲测试方法,其特征在于,所述S1中,在设定的工作模式下,根据测试需求设置示波器各个通道参数和探头参数。

3.根据权利要求2所述的一种双脉冲测试方法,其特征在于,所述S1中,当需要进行连续波形监测时,将示波器设置为Run模式。

4.根据权利要求1所述的一种双脉冲测试方法,其特征在于,所述S2.1中,驱动参数包括开通电压Vge+和关断电压Vge-;

所述开通电压Vge+的计算方法为:使用数据分段截取函数在驱动波形高电压位置上截取X1个采样点,X1个采样点的电压平均值为开通电压Vge+;

所述关断电压Vge-的计算方法为:使用数据分段截取函数在驱动波形低电压位置上截取X2个采样点,X2个采样点的电压平均值为关断电压Vge-。

5.根据权利要求1所述的一种双脉冲测试方法,其特征在于,所述S2.2中,存储过程为:先选择存储路径,再选择存储类型,其中存储类型选择为DAT、TXT或CSV格式。

6.一种双脉冲测试装置,其特征在于,包括:

双脉冲信号发生器,用于向IGBT输出测试用的双脉冲信号;

示波器,用于采集IGBT接收所述双脉冲测试信号时生成的双脉冲波形数据并传递至上位机;

上位机,用于根据双脉冲波形数据计算IGBT的驱动参数、电压参数、电流参数、二极管参数、开关关断参数和杂散电感,并存储接收到的双脉冲波形数据,和计算得到的IGBT的驱动参数、电压参数、电流参数、二极管参数、开关关断参数和杂散电感。

7.根据权利要求6所述的一种双脉冲测试装置,其特征在于,所述上位机具有波形恢复功能,用于调用双脉冲波形数据。

8.一种计算机设备,其特征在于,包括电连接的存储器和处理器,所述存储器上存储有可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时,实现权利要求1-5中任意一项所述的方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一项所述的方法的步骤。

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