[发明专利]一种双脉冲测试方法、装置、设备和存储介质

说明书

本发明公开了一种双脉冲测试方法、装置、设备和存储介质，包括以下步骤：S1、设置示波器参数；S2、进行IGBT双脉冲测试，同时由上位机调用示波器波形数据远程读取程序读取示波器的双脉冲波形数据；S3、对读取的示波形数据进行处理计算和存储，存储原始数据和计算到的数据，并保存相关数据或图形。可以实现通过上位机远程对示波器进行设置，远程数据读取，数据自动处理计算，波形数据存储到上位机，存储的波形数据再恢复等功能。

技术领域

本发明属于电力电子变换器测试领域，具体涉及IGBT基本特性测试技术领域。

背景技术

随着电力电子行业的发展，IGBT在越来越多的领域广泛应用。双脉冲测试方法是应用于IGBT等功率快速开关元件特性评估的一种典型的测试手段。

我们一般是通过Datasheet来认识IGBT的相关特性。但是Datasheet提供的相关参数信息是基于某个特定外部条件测试得来的，而在实际应用中很多外部参数和Datasheet中涉及到的外部参数有很大的不同。因此需要通过双脉冲测试方法对特定条件下的IGBT参数进行测试，从而评估是否满足现有场景的使用。

双脉冲测试可以对比评估不同品牌IGBT的各项动态参数特性；可以评估开通关断电阻选取的是否合适；可以评估开通、关断过程是否有不合理的震荡；可以评估IGBT关断电压尖峰是否过高，关断电压是否存在震荡；可以评估IGBT并联均流特性；可以评估二极管的反向恢复参数是否在安全裕量范围内；可以测量系统的杂散电感。

在上述双脉冲测试中对于各种参数的评估，一般都是通过示波器手动读取波形和进行参数计算。不仅耗时较长而且还会因为人为因素造成读取误差，同时不同操作人员的读取习惯也会造成数据读取误差。

发明内容

本发明的提供了一种双脉冲测试方法、装置、设备和存储介质，提高双脉冲测试的效率，人为测试误差大等问题。

为达到上述目的，本发明所述一种双脉冲测试方法，包括以下步骤：

S1、设置示波器的工作模式；向IGBT发送双脉冲测试信号，示波器接收并显示IGBT接收所述双脉冲测试信号时生成的双脉冲波形数据；

S2、通过上位机读取示波器的双脉冲波形数据；

S3、对读取的双脉冲波形数据进行计算和存储：

S3.1、基于双脉冲IGBT动态参数计算方法，利用双脉冲波形数据计算IGBT的双脉冲参数，双脉冲参数包括驱动参数、电压参数、电流参数、二极管参数、开关关断参数和杂散电感；

S3.2、将双脉冲参数和双脉冲波形数据存储到上位机中。

进一步的，在S1中，在设定的工作模式下，根据测试需求设置示波器各个通道参数和探头参数。

进一步的，所述S1中，当需要进行连续波形监测的时候，将示波器设置为Run模式。

进一步的，S2.1中，驱动参数包括开通电压Vge+和关断电压Vge-；

所述开通电压Vge+的计算方法为：使用数据分段截取函数在驱动波形高电压位置上截取X1个采样点，X1个采样点的电压平均值为开通电压Vge+；

所述关断电压Vge-的计算方法为：使用数据分段截取函数在驱动波形低电压位置上截取X2个采样点，X2个采样点的电压平均值为关断电压Vge-。

进一步的，S2.2中，存储过程为：先选择存储路径，再选择存储类型，其中数据类型选择为DAT、TXT或CSV格式。

一种双脉冲测试装置，包括：

双脉冲信号发生器，用于向IGBT输出测试用的双脉冲信号；