[发明专利]一种检测电路图的方法、系统、设备及可读存储介质有效
申请号: | 202210799761.2 | 申请日: | 2022-07-08 |
公开(公告)号: | CN114882520B | 公开(公告)日: | 2022-11-11 |
发明(设计)人: | 周永乐;袁豪;张志鸿 | 申请(专利权)人: | 成都西交智汇大数据科技有限公司 |
主分类号: | G06V30/422 | 分类号: | G06V30/422;G06V30/14;G06V30/148;G06V30/19;G06K9/62 |
代理公司: | 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 | 代理人: | 刘林;陈攀 |
地址: | 611731 四川省成都*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 电路图 方法 系统 设备 可读 存储 介质 | ||
1.一种检测电路图的方法,其特征在于,包括:
获取图像信息,所述图像信息包括至少一条导线和至少两个电学元器件的电路图像;根据所述图像信息提取得到第一信息,所述第一信息包括每条所述导线的位置信息和每个电学元器件所在位置的边界框的坐标信息;
根据每条所述导线的位置信息和每个所述电学元器件所在位置的边界框的坐标信息确定所述导线与导线对应的电学元器件之间的有效连线性,得到导线的有效连接信息;
根据每条所述导线的有效连接信息生成电学元器件连线关系矩阵,并根据所述电学元器件连线关系矩阵判断电路图连接是否正确;
其中,根据每条导线的位置信息和每个电学元器件所在位置的边界框的坐标信息,判断导线是否与电学元器件所在位置的边界框存在交点,如果存在交点则导线在电学元器件所在位置的边界框处截断,将与边界框的交点作为端点,当一根导线的两个端点分别位于两个不同的电学元器件所在位置的边界框处,则判断两个端点均为有效端点,从而确定导线与电学元器件之间的有效连线性;
所述根据所述图像信息提取得到第一信息,包括:
将所述图像信息输入图像分割模型中,得到第一像素点集合,所述第一像素点集合包括每条所述导线的像素点集以及干扰点像素集;
将所述第一像素点集合发送至聚类模型滤除所述干扰点像素集,得到第二像素点集合;
基于所述第二像素点集合,得到每条导线对应的位置信息。
2.根据权利要求1所述的检测电路图的方法,其特征在于,所述根据每条所述导线的有效连接信息生成电学元器件连线关系矩阵,包括:
根据电学元器件生成电学元器件连接关系列表图;
根据每条所述导线的有效连接信息调整所述电学元器件连接关系列表图;
根据调整后的电学元器件连接关系列表图生成电学元器件连接关系矩阵。
3.根据权利要求1所述的检测电路图的方法,其特征在于,所述根据每条所述导线的位置信息和每个所述电学元器件所在位置的边界框的坐标信息确定所述导线与导线对应的电学元器件之间的有效连线性,得到导线的有效连接信息,包括:
将每条所述导线的位置信息和每个电学元器件所在位置的边界框的坐标信息进行对比,得到对比结果;
根据所述对比结果,得到所述导线与所述导线对应的电学元器件所在位置的边界框处的端点信息;
根据所述端点信息判断所述导线的两端点是否位于不同的所述电学元器件所在位置的边界框中,得到导线的有效连接信息。
4.一种检测电路图的系统,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取图像信息,所述图像信息包括至少一条导线和至少两个电学元器件的电路图像;
提取模块,用于根据所述图像信息提取得到第一信息,所述第一信息包括每条所述导线的位置信息和每个电学元器件所在位置的边界框的坐标信息;
确定模块,用于根据每条所述导线的位置信息和每个所述电学元器件所在位置的边界框的坐标信息确定所述导线与导线对应的电学元器件之间的有效连线性,得到导线的有效连接信息;
判断模块,用于根据每条所述导线的有效连接信息生成电学元器件连线关系矩阵,并根据所述电学元器件连线关系矩阵判断电路图连接是否正确;
其中,根据每条导线的位置信息和每个电学元器件所在位置的边界框的坐标信息,判断导线是否与电学元器件所在位置的边界框存在交点,如果存在交点则导线在电学元器件所在位置的边界框处截断,将与边界框的交点作为端点,当一根导线的两个端点分别位于两个不同的电学元器件所在位置的边界框处,则判断两个端点均为有效端点,从而确定导线与电学元器件之间的有效连线性;
所述提取模块,包括:
第一发送单元,用于将所述图像信息输入图像分割模型中,得到第一像素点集合,所述第一像素点集合包括每条所述导线的像素点集以及干扰点像素集;
第二发送单元,用于将所述第一像素点集合发送至聚类模型滤除所述干扰点像素集,得到第二像素点集合;
第一确定单元,用于基于所述第二像素点集合,得到每条导线对应的位置信息。
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