[发明专利]用于检查物体的方法在审
| 申请号： | 202210815983.9 | 申请日： | 2022-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN115620033A | 公开（公告）日： | 2023-01-17 |
| 发明（设计）人： | 安德鲁·克里斯宾·格拉哈姆;朱利安·马修·福克萨;詹姆斯·弗拉登伯格·米勒;沃尔特·V·迪克逊;维贾伊·希尔萨特 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司;奥利弗克里斯宾机器人有限公司 |
| 主分类号： | G06V10/75 | 分类号： | G06V10/75;G06V20/64 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 陈海琴 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 检查 物体 方法 | ||
1.一种用于检查物体的方法，其特征在于，所述方法包括：
接收或确定检查图像数据，所述检查图像数据包括检查图像像素阵列，其中所述检查图像像素阵列中的至少一个检查图像像素具有与其相关联的像素属性；
经由处理器接收与所述检查图像像素阵列中的检查图像像素的连续段相关联的用户输入；以及
基于与所述检查图像像素阵列中的所述检查图像像素的连续段相关联的所述像素属性，确定所述物体的属性。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，接收所述用户输入包括通过可操作地联接到所述处理器的外围装置接收所述用户输入。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，所述检查图像像素的连续段是检查图像像素的线性段，并且其中，确定所述物体的所述属性包括确定长度。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，其中，所述像素属性包括距离测量。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，所述检查图像像素的连续段是检查图像像素的闭合段，并且其中，确定所述物体的所述属性包括确定所述闭合段的面积。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，所述检查图像像素的连续段是检查图像像素的闭合段，并且其中，确定所述物体的所述属性包括：基于与所述检查图像像素阵列中的所述检查图像像素的闭合段相关联的所述像素属性并且进一步基于与被所述检查图像像素阵列中的所述检查图像像素的闭合段包围的检查图像像素相关联的像素属性，确定所述物体的所述属性。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，其中，所述像素属性包括面积测量。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，包括向用户显示检查图像和所述检查图像像素阵列。
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，基于与所述检查图像像素阵列中的所述检查图像像素的连续段相关联的所述像素属性确定所述物体的所述属性包括：基于与所述检查图像像素阵列中的所述检查图像像素的连续段相关联的所述像素属性，确定所述物体的多个属性。
10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，其中，接收所述用户输入进一步包括接收由用户绘制的线，并且将所述线与所述检查图像像素阵列中的所述检查图像像素的连续段相关联。
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