[发明专利]低功耗芯片电流的测试方法、电路及其装置

权利要求书

1.一种低功耗芯片电流的测试方法，其特征在于，应用于低功耗芯片电流的测试电路，所述低功耗芯片电流的测试电路包括电源电压输入端，用于接入电源电压；测试电阻；温度传感器，用于检测测试环境温度，并输出环境温度检测信号；恒流源，所述恒流源的电源端与所述电源电压输入端连接；电压采样电路，用于检测所述测试电阻的端电压，并输出电压采样信号；第一开关电路，所述第一开关电路的第一端与所述电源电压输入端连接，所述第一开关电路的第二端与所述测试电阻的第一端连接，所述第一开关电路的第三端与所述恒流源的电流输出端连接；第二开关电路，所述第二开关电路的第一端与所述测试电阻的第二端连接，所述第二开关电路的第二端用于与所述低功耗芯片连接，所述第二开关电路的第三端接地；所述低功耗芯片电流的测试方法包括：

控制所述第一开关电路的第一端和第二端连通，以及控制所述第二开关电路的第一端和第二端连通，以使所述电源电压输入端经所述测试电阻与所述低功耗芯片形成芯片测试回路，以将测试电阻连接于芯片测试回路中，并获取芯片的测试环境温度以及测试电阻在芯片测试回路中的端电压；

确定与测试环境温度对应的补偿电压值，并根据补偿电压值对测试电阻的端电压进行电压补偿；

获取测试电阻的电阻值，并根据测试电阻的电阻值和电压补偿后的端电压，确定芯片在测试环境温度下的工作电流；

确定与测试环境温度对应的补偿电压值，具体为：

控制所述第一开关电路将其第二端切换为与第三端连通，以及控制所述第二开关电路将其第二端切换为与第三端连通，以使所述恒流源的电流输出端经所述测试电阻与地形成电压校准回路，以将测试电阻切换为连接于电压校准回路中，获取测试电阻在电压校准回路中的端电压，将测试电阻在电压校准回路中端电压和在芯片测试回路中端电压的电压差值作为测试环境温度对应的补偿电压值。

2.如权利要求1所述的低功耗芯片电流的测试方法，其特征在于，确定与测试环境温度对应的补偿电压值，具体为：

调用预设测试环境温度-补偿电压值映射表，根据测试环境温度对预设测试环境温度-补偿电压值映射表进行查表，并将查表后返回的结果作为测试环境温度对应的补偿电压值。

3.如权利要求2所述的低功耗芯片电流的测试方法，其特征在于，将测试电阻连接于芯片测试回路中，并获取芯片的测试环境温度以及测试电阻在芯片测试回路中的端电压之前，所述低功耗芯片电流的测试方法还包括：

形成预设测试环境温度-补偿电压值映射表。