[发明专利]低功耗芯片电流的测试方法、电路及其装置

说明书

本发明公开一种低功耗芯片电流的测试方法、电路及其装置，其中，低功耗芯片电流的测试方法包括：将测试电阻连接于芯片测试回路中，并获取芯片的测试环境温度以及测试电阻在芯片测试回路中的端电压；确定与测试环境温度对应的补偿电压值，并根据补偿电压值对测试电阻的端电压进行电压补偿；获取测试电阻的电阻值，并根据测试电阻的电阻值和电压补偿后的端电压，确定芯片在测试环境温度下的工作电流。本发明技术方案可解决环境温度对于低功耗芯片工作电流测试的影响。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种低功耗芯片电流的测试方法、电路及其装置。

背景技术

目前，低功耗芯片，尤其是低功耗RTC芯片的芯片生产厂商需要在芯片量产后，对低功耗芯片进行全温区的工作电流测试，以确保低功耗芯片在全温区均具有较为稳定的低功耗性能。但由于在工作电流测试过程中，用于测试的相关硬件电路容易受测试环境温度，尤其是高温的影响，从而导致测得的工作电流存在极大的误差，进而导致售出的低功耗芯片存在不良品。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种低功耗芯片电流的测试方法，旨在解决测试环境温度对于低功耗芯片工作电流测试的影响。

为实现上述目的，本发明提出的低功耗芯片电流的测试方法，所述低功耗芯片电流的测试方法包括：

将测试电阻连接于芯片测试回路中，并获取芯片的测试环境温度以及测试电阻在芯片测试回路中的端电压；

确定与测试环境温度对应的补偿电压值，并根据补偿电压值对测试电阻的端电压进行电压补偿；

获取测试电阻的电阻值，并根据测试电阻的电阻值和电压补偿后的端电压，确定芯片在测试环境温度下的工作电流。

可选地，确定与测试环境温度对应的补偿电压值，具体为：

将测试电阻切换为连接于电压校准回路中，获取测试电阻在电压校准回路中的端电压，将测试电阻在电压校准回路中端电压和在芯片测试回路中端电压的电压差值作为测试环境温度对应的补偿电压值。

可选地，确定与测试环境温度对应的补偿电压值，具体为：

调用预设测试环境温度-补偿电压值映射表，根据测试环境温度对预设测试环境温度-补偿电压值映射表进行查表，并将查表后返回的结果作为测试环境温度对应的补偿电压值。

可选地，将测试电阻连接于芯片测试回路中，并获取芯片的测试环境温度以及测试电阻在芯片测试回路中的端电压之前，所述低功耗芯片电流的测试方法还包括：

形成预设测试环境温度-补偿电压值映射表。

可选地，将测试电阻切换为连接于芯片测试回路中，具体为：

控制开关电路将测试电阻的第一端与电源电压输入端连接，以及将测试电阻的第二端与低功耗芯片连接，以使电源电压输入端经测试电阻与低功耗芯片形成芯片测试回路。

可选地，将测试电阻切换为连接于电压校准回路中，具体为：

控制开关电路将测试电阻的第一端与恒流源的电流输出端连接，以及将测试电阻的第二端与地连接，以使恒流源的电流输出端经测试电阻与地形成电压校准回路。

本发明还提出一种低功耗芯片电流的测试电路，所述低功耗芯片电流的测试电路包括：

电源电压输入端，用于接入电源电压；

测试电阻；

温度传感器，用于检测测试环境温度，并输出环境温度检测信号；

电压采样电路，用于检测所述测试电阻的端电压，并输出电压采样信号；