[发明专利]用于存储器的检测方法在审
| 申请号： | 202210876604.7 | 申请日： | 2022-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN115331726A | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 吴鹏程;孔令华;苏捷峰 | 申请（专利权）人： | 长江存储科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯;张靖琳 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 存储器 检测 方法 | ||
1.一种用于存储器的检测方法，其特征在于，包括：
从多个所述存储器中选取部分作为具有不同样本量的至少两组测试样本进行实际测试，根据实际测试的测试结果获取表征值与样本量之间的第一关系、以及表征值与失败位计数之间的第二关系；
根据第一关系，将全部多个所述存储器的数量作为样本量获取其对应的计算表征值；
根据第二关系，通过所述计算表征值获取多个所述存储器所对应的计算失败位计数值，将所述计算失败位计数值与预设阈值进行比较；
其中，表征值用于表示所述存储器的存储单元中不同存储状态的电压阈值之间的距离及交叠程度。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述存储器为TLC存储器、MLC存储器中的任意一种。
3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，通过二分法逐次逼近的方式获取所述表征值。
4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述表征值的最小值与失败位计数的最大值之间的关系可以表示为二次多项式、三次多项式、四参数多项式中的至少一种。
5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述实际测试包括对至少两组不同样本量的样本进行若干次的读写循环。
6.根据权利要求1或5所述的检测方法，其特征在于，所述实际测试的测试电压包括多个所述存储器的存储单元中不同存储状态之间失败位计数最小时所对应的电压值。
7.根据权利要求1所的检测方法，其特征在于，所述表征值与所述失败位计数值为负相关，所述表征值越大，其对应的失败位计数值越小。
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