[发明专利]存储器装置、电子装置和存储器装置的操作方法在审

专利信息
申请号: 202210890699.8 申请日: 2022-07-27
公开(公告)号: CN116013396A 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 李昌俊;李英敏;金垠珏;徐廷旻 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42;G06F11/10;G06F3/06
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 张川绪;黄晓燕
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 存储器 装置 电子 操作方法
【权利要求书】:

1.一种存储器装置,包括:

易失性存储器,包括多个存储器单元、多条字线和多条位线,所述易失性存储器被配置为:基于从主机接收的第一读取命令和地址提供存储在所述多个存储器单元之中的目标存储器单元中的输出数据;

恢复逻辑电路,被配置为:提供指示所述多条位线之中的第一位线和第二位线的提示数据,缺陷单元连接到第一位线,正常单元连接到第二位线;以及

纠错电路,被配置为:通过基于输出数据和提示数据纠正输出数据中的错误而生成纠正的数据,并且将纠正的数据提供给主机。

2.根据权利要求1所述的存储器装置,其中,恢复逻辑电路包括:

恢复控制器,被配置为:控制易失性存储器将测试模式数据存储在目标存储器单元中,控制易失性存储器读取测试数据,并且基于从易失性存储器提供的测试数据来生成提示数据;

提示数据缓冲器,被配置为:临时存储提示数据;以及

测试数据缓冲器,被配置为:临时存储测试数据。

3.根据权利要求2所述的存储器装置,其中,恢复控制器还被配置为:

将第一写入命令、第一测试模式数据和地址传送到易失性存储器;

将第二读取命令和地址传送到易失性存储器;

将从易失性存储器输出的第一测试数据存储在测试数据缓冲器中;

将第二写入命令、第二测试模式数据和地址传送到易失性存储器;

将第三读取命令和地址传送到易失性存储器;以及

将从易失性存储器输出的第二测试数据存储在测试数据缓冲器中。

4.根据权利要求3所述的存储器装置,其中,恢复控制器还被配置为:

对第一测试数据和第二测试数据执行异或运算;以及

根据异或运算的结果将第一结果数据作为提示数据存储在提示数据缓冲器中,第一结果数据的至少一个位具有第一值。

5.根据权利要求4所述的存储器装置,其中,恢复控制器还被配置为:

基于由异或运算生成的第二结果数据的所有值都是与第一值不同的第二值,将用于改变用于操作易失性存储器的内部电压和时钟频率中的任何一者或任何组合的设置请求信号发送给主机;以及

基于内部电压和时钟频率中的任何一者或任何组合根据设置请求信号改变,控制易失性存储器基于第一测试模式数据执行写入操作、基于第一测试数据执行读取操作、基于第二测试模式数据执行写入操作、以及基于第二测试数据执行读取操作。

6.根据权利要求5所述的存储器装置,其中,恢复控制器还被配置为:基于第二结果数据的所有值都是第二值,请求主机生成具有比内部电压的电平低的电平的减小的内部电压。

7.根据权利要求5所述的存储器装置,其中,恢复控制器还被配置为:基于第二结果数据的所有值都是第二值,请求主机生成具有比时钟频率大的增大的时钟频率的时钟。

8.根据权利要求2所述的存储器装置,其中,恢复控制器经还被配置为:

将输出数据备份到测试数据缓冲器,并控制易失性存储器将测试模式数据存储在目标存储器单元中;以及

在提示数据被生成之后,控制易失性存储器将备份的输出数据存储在目标存储器单元中。

9.根据权利要求1至权利要求7中的任意一项权利要求所述的存储器装置,其中,纠错电路还被配置为:

针对从主机接收的数据生成奇偶校验位;

使用提示数据纠正输出数据;

将纠正的数据发送给主机;

输出至少一个错误位通过对输出数据和提示数据执行异或运算被纠正的数据;

基于至少一个错误位被纠正的数据生成校验子数据;

基于校验子数据计算基于错误位的位置的倒数的错误位置方程的系数;

通过使用校验子数据和错误位置方程的系数计算至少一个错误位被纠正的数据中的错误位的位置;

通过对错误位的值进行取反来纠正错误;以及

输出纠正的数据。

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