[发明专利]电容检测电路、芯片及电子设备

权利要求书

1.一种电容检测电路，其特征在于，应用于触摸显示装置，所述触摸显示装置包括检测电极，所述电容检测电路包括：参考通道、至少两个检测通道以及与所述检测通道一一对应的差分电路；

所述检测通道连接所述检测电极，用于接收所述检测电极输出的电容检测信号，并将所述电容检测信号放大，将放大后的所述电容检测信号输入至所述差分电路；

所述参考通道用于与所述触摸显示装置中的阴极ELVSS层连接，并生成干扰参考信号，所述干扰参考信号用于去除放大后的所述电容检测信号中的干扰信号，所述参考通道将所述干扰参考信号输入至所述差分电路；

所述差分电路用于对放大后的所述电容检测信号和所述干扰参考信号进行差分，以输出去除干扰后的电容检测信号。

2.根据权利要求1所述的电容检测电路，其特征在于，所述参考通道包括参考电容和第一放大电路；

所述参考电容的第一端通过走线与所述阴极ELVSS层连接，所述参考电容的第二端与所述第一放大电路的第二输入端连接，所述第一放大电路的第一输入端接地，所述第一放大电路的输出端输出所述干扰参考信号。

3.根据权利要求2所述的电容检测电路，其特征在于，放大后的所述电容检测信号中的干扰信号为显示面板引入所述电容检测电路中的干扰信号，所述干扰参考信号与所述干扰信号的幅值相同。

4.根据权利要求3所述的电容检测电路，其特征在于，所述触摸显示装置包括驱动电极，所述检测电极和所述阴极ELVSS层之间的耦合电容为Cs，所述驱动电极和所述阴极ELVSS层之间的耦合电容为Cd，所述驱动电极和所述检测电极之间的检测电容为Cx，所述参考电容Cc的大小满足：Cc＝Cs+(Cd*Cx)/(Cd+Cx)。

5.根据权利要求1-3任一项所述的电容检测电路，其特征在于，所述检测通道包括第二放大电路；

所述第二放大电路的第一输入端接地，所述第二放大电路的第二输入端连接所述检测电极，所述第二放大电路用于接收所述检测电极输出的电容检测信号并将所述电容检测信号放大，所述第二放大电路的输出端输出放大后的所述电容检测信号。

6.根据权利要求1-3任一项所述的电容检测电路，其特征在于，所述差分电路包括第一差分放大器；

所述第一差分放大器的第一输入端连接所述参考通道的输出端，用于接收所述参考通道输出的所述干扰参考信号，所述第一差分放大器的第二连接所述检测通道的输出端，用于接收所述检测通道输出的放大后的所述电容检测信号，所述第一差分放大器的输出端输出所述去除干扰后的电容检测信号。

7.根据权利要求6所述的电容检测电路，其特征在于，还包括：第一控制电路；

所述第一控制电路用于根据所述去除干扰后的电容检测信号确定触摸位置。

8.根据权利要求1-3任一项所述的电容检测电路，其特征在于，所述差分电路包括第二差分放大器；

所述第二差分放大器的第一输入端连接所述参考通道的输出端，用于接收所述参考通道输出的所述干扰参考信号，所述第二差分放大器的第二输入端连接所述检测通道的输出端，用于接收所述检测通道输出的放大后的所述电容检测信号，所述第二差分放大器的第一输出端输出所述去除干扰后的电容检测信号，所述第二差分放大器的第二输出端输出反相的所述去除干扰后的电容检测信号。

9.根据权利要求8所述的电容检测电路，其特征在于，还包括：第二控制电路；

所述第二控制电路用于根据所述去除干扰后的电容检测信号和反相的所述去除干扰后的电容检测信号的差分确定触摸位置。

10.一种芯片，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的电容检测电路。

11.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求10所述的芯片。