[发明专利]电容检测电路、芯片及电子设备

说明书

本申请提供一种电容检测电路、芯片及电子设备，该电容检测电路应用于触摸显示装置，触摸显示装置包括检测电极，电容检测电路包括：参考通道、至少两个检测通道以及与每个检测通道一一对应的差分电路；检测通道连接检测电极，用于接收检测电极输出的电容检测信号，并将电容检测信号放大，将放大后的电容检测信号输入至差分电路；参考通道用于与阴极ELVSS连接，并生成干扰参考信号，干扰参考信号用于去除放大后的电容检测信号中的干扰信号，参考通道将干扰参考信号输入至差分电路；差分电路用于对放大后的电容检测信号和干扰参考信号进行差分，以输出去除干扰后的电容检测信号，从而避免了显示面板的干扰信号对电容触控产生影响，提高了触控性能。

技术领域

本申请涉及电子技术，尤其涉及一种电容检测电路、芯片及电子设备。

背景技术

当前，智能终端的AMOLED屏幕的使用率越来越高，AMOLED屏幕又分为硬屏和软屏，随着市场的需求，软屏的使用越来越普及。

在软屏AMOLED屏幕中，屏幕叠层变薄，其中用于感应触摸信号的驱动电极和检测电极到显示面板中的阴极ELVSS层的距离也变的很小，这就导致阴极ELVSS层与驱动电极、检测电极的耦合电容变大，显示面板的阴极ELVSS信号的干扰信号容易耦合到触控面板上，由此给触控面板带来了极大的干扰，导致触控性能较差。

发明内容

本申请提供一种电容检测电路、芯片及电子设备，避免了显示面板的干扰信号对电容触控产生影响，提高了触控性能。

第一方面，本申请实施例提供一种电容检测电路，

应用于触摸显示装置，所述触摸显示装置包括检测电极，所述电容检测电路包括：参考通道、至少两个检测通道以及与所述检测通道一一对应的差分电路；

所述检测通道连接所述检测电极，用于接收所述检测电极输出的电容检测信号，并将所述电容检测信号放大，将放大后的所述电容检测信号输入至所述差分电路；

所述参考通道用于与所述触摸显示装置中的阴极ELVSS层连接，并生成干扰参考信号，所述干扰参考信号用于去除放大后的所述电容检测信号中的干扰信号，所述参考通道将所述干扰参考信号输入至所述差分电路；

所述差分电路用于对放大后的所述电容检测信号和所述干扰参考信号进行差分，以输出去除干扰后的电容检测信号。

在一种实施方式中，所述参考通道包括参考电容和第一放大电路；

所述参考电容的第一端通过走线与所述阴极ELVSS层连接，所述参考电容的第二端与所述第一放大电路的第二输入端连接，所述第一放大电路的第一输入端接地，所述第一放大电路的输出端输出所述干扰参考信号。

在一种实施方式中，放大后的所述电容检测信号中的干扰信号为显示面板引入所述电容检测电路中的干扰信号，所述干扰参考信号与所述干扰信号的幅值相同。

在一种实施方式中，所述触摸显示装置包括驱动电极，所述检测电极和所述阴极ELVSS层之间的耦合电容为Cs，所述驱动电极和所述阴极ELVSS层之间的耦合电容为Cd，所述驱动电极和所述检测电极之间的检测电容为Cx，所述参考电容Cc的大小满足：Cc＝Cs+(Cd*Cx)/(Cd+Cx)。

在一种实施方式中，所述检测通道包括第二放大电路；

所述第二放大电路的第一输入端接地，所述第二放大电路的第二输入端连接所述检测电极，所述第二放大电路用于接收所述检测电极输出的电容检测信号并将所述电容检测信号放大，所述第二放大电路的输出端输出放大后的所述电容检测信号。

在一种实施方式中，所述差分电路包括第一差分放大器；