[发明专利]基于固态硬盘主控芯片的闪存测试方法、装置及固态硬盘

权利要求书

1.一种基于固态硬盘主控芯片的闪存测试方法，其特征在于，所述固态硬盘主控芯片包括快闪存储器阵列，所述方法包括：

从所述快闪存储器阵列的目标块中读取数据；

将读取的数据与预存到所述目标块的数据进行比较，得到错误信息，所述错误信息包括错误数据以及错误地址；

根据所述错误信息确定所述目标块的比特错误率；

根据所述比特错误率，确定出所述快闪存储器阵列中的坏块；

所述根据所述比特错误率，确定出所述快闪存储器阵列中的坏块，包括：

监测所述快闪存储器阵列中目标块的工作电流；

基于所述比特错误率以及所述工作电流，确定出所述快闪存储器阵列中的坏块。

2.如权利要求1所述的闪存测试方法，其特征在于，所述基于所述比特错误率以及所述工作电流，确定出所述快闪存储器阵列中的坏块，包括：

基于所述比特错误率、预设比特错误率加权因子、所述工作电流以及预设电流加权因子，确定所述目标块的退化分值，其中，所述退化分值表示所述目标块的退化程度得分；

基于所述退化分值，确定所述目标块是否为坏块。

3.如权利要求1所述的闪存测试方法，其特征在于，所述根据所述比特错误率，确定出所述快闪存储器阵列中的坏块，包括：

获取所述快闪存储器阵列中目标块进行写、擦时的用时时长；

基于所述比特错误率以及所述用时时长，确定出所述快闪存储器阵列中的坏块。

4.如权利要求1所述的闪存测试方法，其特征在于，所述根据所述比特错误率，确定出所述快闪存储器阵列中的坏块，包括：

获取写入到所述目标块的数据中零值的数量；

基于所述比特错误率以及所述零值的数量，确定出所述快闪存储器阵列中的坏块。

5.如权利要求1所述的闪存测试方法，其特征在于，所述根据所述比特错误率，确定出所述快闪存储器阵列中的坏块，包括：

监测所述快闪存储器阵列中目标块的工作电流；

获取所述快闪存储器阵列中目标块进行写、擦时的用时时长；

获取写入到所述目标块的数据中零值的数量；

基于所述比特错误率、所述工作电流、所述用时时长以及所述零值的数量，确定出所述快闪存储器阵列中的坏块。

6.如权利要求5所述的闪存测试方法，其特征在于，所述基于所述比特错误率、所述工作电流、所述用时时长以及所述零值的数量，确定出所述快闪存储器阵列中的坏块，包括：

基于所述比特错误率、预设比特错误了加权因子、所述工作电流、预设电流加权因子、所述用时时长、预设时间因素加权因子、所述零值的数量以及预设零值因素加权因子，确定所述目标块的退化分值，其中，所述退化分值表示所述目标块的退化程度得分；

判断所述退化分值是否大于预设退化阈值；

若是，则确定所述目标块为坏块。

7.一种基于固态硬盘主控芯片的闪存测试装置，其特征在于，包括：

读取模块，用于从快闪存储器阵列的目标块中读取数据；

比较模块，用于将读取的数据与预存到所述目标块的数据进行比较，得到错误信息，所述错误信息包括错误数据以及错误地址；

第一确定模块，用于根据所述错误信息确定所述目标块的比特错误率；

第二确定模块，用于根据所述比特错误率，确定出所述快闪存储器阵列中的坏块；

所述根据所述比特错误率，确定出所述快闪存储器阵列中的坏块，包括：

监测所述快闪存储器阵列中目标块的工作电流；基于所述比特错误率以及所述工作电流，确定出所述快闪存储器阵列中的坏块。

8.一种固态硬盘，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1-6中任一项所述闪存测试方法的步骤。