[发明专利]集成电路验证方法、装置、仿真系统、电子设备及介质

权利要求书

1.一种集成电路的验证方法，其特征在于，包括：

获取与待测试集成电路对应的激励数据序列的配置文件，以及基于与所述待测试集成电路对应的描述信息构建测试环境；其中，所述激励数据序列中包括多帧激励数据；所述配置文件包括与多帧所述激励数据分别对应的配置信息；

从所述配置文件中读取与每帧激励数据对应的配置信息，并基于所述测试环境、以及读取到的配置信息，对所述每帧激励数据进行仿真处理，得到所述激励数据序列对应的仿真处理结果；

基于所述仿真处理结果、以及与所述激励数据序列对应的真实结果，得到所述待测试集成电路的验证结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取与待测试集成电路对应的激励数据序列的配置文件包括：

获取所述待测试集成电路对应的激励数据序列的原始配置文件；

对所述原始配置文件进行格式转换，得到仿真加速器能够识别的所述激励数据序列的配置文件。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述配置文件包括：寄存器配置文件；所述寄存器配置文件中携带有与所述激励数据序列中各帧激励数据分别对应的寄存器配置信息；

所述对所述原始配置文件进行格式转换，得到仿真加速器能够识别的所述激励数据序列的配置文件，包括：

按照所述激励数据序列中各帧激励数据的顺序，从所述原始配置文件中读取各帧激励数据分别对应的寄存器配置信息；

将各帧激励数据分别对应的寄存器配置信息按照预设形式依次写入预设格式的目标文件中，得到所述配置文件。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，各帧所述激励数据对应的寄存器配置信息包括：各帧所述激励数据对应的至少一个寄存器的寄存器地址以及寄存器值；

所述将各帧激励数据分别对应的寄存器配置信息按照预设形式依次写入预设格式的目标文件中，得到所述配置文件，包括：

针对各帧激励数据，将与该帧激励数据对应每个寄存器的寄存器地址、以及寄存器值，生成一条预设数据长度的寄存器信息；基于该帧激励数据对应的至少一个寄存器分别对应的寄存器信息，生成与该帧激励数据对应的目标寄存器信息；

将多帧激励数据分别对应的目标寄存器信息依次写入所述目标文件中，得到所述配置文件。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述从所述配置文件中读取与每帧激励数据对应的配置信息，包括：

按照各帧所述激励数据在所述激励数据序列中的位置，依次将各帧所述激励数据作为当前激励数据，从所述配置文件中读取与所述当前激励数据对应的配置信息。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述从所述配置文件中读取与所述当前激励数据对应的配置信息，包括：

针对当前激励数据为首帧激励数据的情况，响应于接收到仿真启动指令，所述测试环境生成与所述当前激励数据对应的读取指示信号；以及针对当前激励数据为非首帧激励数据的情况，响应于完成对所述非首帧激励数据对应的前一激励数据的仿真处理，所述测试环境生成与所述当前激励数据对应的读取指示信号；

响应于接收到测试环境生成的所述读取指示信号，从所述配置文件中读取与所述当前激励数据对应的配置信息。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，各帧激励数据分别对应的配置信息包括：各帧激励数据分别对应的寄存器数量；

所述从所述配置文件中读取与每帧激励数据对应的配置信息之前，还包括：

从所述配置文件中获取各帧激励数据分别对应的寄存器数量；

响应于接收到测试环境生成的所述读取指示信号，从所述配置文件中读取与所述当前激励数据对应的配置信息，包括：

基于所述当前激励数据对应的寄存器数量、所述当前激励数据对应的原始地址偏移数据、以及所述寄存器信息的预设数据长度，从所述配置文件中读取与当前激励数据对应各寄存器的目标寄存器信息。