[发明专利]电源钳位电路及芯片在审
申请号: | 202210914547.7 | 申请日: | 2022-08-01 |
公开(公告)号: | CN115296282A | 公开(公告)日: | 2022-11-04 |
发明(设计)人: | 陶略;芦俊;潘希武 | 申请(专利权)人: | 展讯通信(上海)有限公司 |
主分类号: | H02H9/00 | 分类号: | H02H9/00;H02H9/02;H02H9/04 |
代理公司: | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人: | 孙峰芳 |
地址: | 201203 上海市浦东新区浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电源 电路 芯片 | ||
本发明提供一种电源钳位电路及芯片。电源钳位电路包括:第一PMOS管,第一PMOS管的源端与电源线连接,第一PMOS管的栅端与地线连接;电容,电容一端与第一PMOS管的漏端连接,另一端与地线连接;第二PMOS管,第二PMOS管的源端与电源线连接,第二PMOS管的栅端与第一PMOS管的漏端连接;第一NMOS管,第一NMOS管的漏端与第二PMOS管的漏端连接,第一NMOS管的栅端与第一PMOS管的漏端连接,第一NMOS管的源端与地线连接;第二NMOS管,第二NMOS管的漏端与电源线连接,第二NMOS管的栅端与第二PMOS管的漏端连接,第二NMOS管的源端与地线连接。
技术领域
本发明涉及芯片电路设计技术领域,尤其涉及一种电源钳位电路及芯片。
背景技术
随着集成电路技术的发展,单个芯片上器件的集成度越来越高,这使得芯片对电过应力(Electrical Over Stress,EOS)防护的要求不断提高。集成电路的EOS通常是由外部源在非常短的时间内对芯片的管脚释放大电压所导致,因此这种放电现象能够轻易地损坏未经EOS防护设计的芯片。具体地,EOS事件可以分为两类,第一类是纳秒级别的快速瞬态放电事件,如静电放电(ESD),第二类是微毫秒级别的慢速瞬态放电事件,如浪涌(Surge)。因此在设计EOS防护电路时,需要同时考虑静电放电防护和浪涌防护。
发明内容
本发明提供了一种电源钳位电路及芯片,能够增强浪涌防护能力。
一方面,本发明提供一种电源钳位电路,包括:驱动子电路和泄放子电路,其中,
所述驱动子电路包括:
第一PMOS管,所述第一PMOS管的源端与电源线连接,所述第一PMOS管的栅端与地线连接;
电容,所述电容一端与所述第一PMOS管的漏端连接,另一端与地线连接;
第二PMOS管,所述第二PMOS管的源端与电源线连接,所述第二PMOS管的栅端与所述第一PMOS管的漏端连接;
第一NMOS管,所述第一NMOS管的漏端与所述第二PMOS管的漏端连接,所述第一NMOS管的栅端与所述第一PMOS管的漏端连接,所述第一NMOS管的源端与地线连接;
所述泄放子电路包括:
第二NMOS管,所述第二NMOS管的漏端与电源线连接,所述第二NMOS管的栅端与所述第二PMOS管的漏端连接,所述第二NMOS管的源端与地线连接。
可选地,所述驱动子电路还包括:
第三NMOS管,所述第三NMOS管的漏端与所述第一PMOS管的漏端连接,所述第三NMOS管的栅端和源端与地线连接;
电阻,所述电阻的一端与所述第二PMOS管的漏端连接,另一端与地线连接。
可选地,若选择5伏NMOS,所述第三NMOS管的一次击穿电压不超过10伏,当浪涌电压大于所述第三NMOS管的一次击穿电压时,所述第三NMOS管发生骤回,使得所述第二NMOS管导通泄放浪涌电流。
可选地,所述电阻的阻值满足:当所述第二PMOS管导通时,所述电阻上的电压大于所述第二NMOS管的阈值电压,使得所述第二NMOS管导通。
可选地,所述第二NMOS管为大尺寸NMOS管,其宽度尺寸大于500微米。
另一方面,本发明提供一种芯片,所述芯片包括上述电源钳位电路。
本发明实施例提供的电源钳位电路,在发生静电放电和浪涌时,能够保持泄放子电路的晶体管导通,泄放静电放电电流和浪涌电流,从而保护芯片。
附图说明
图1为本发明一实施例电源钳位电路的电路结构示意图;
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