[发明专利]一种存储芯片的测试方法及系统

权利要求书

1.一种存储芯片的测试方法，其特征在于，至少包括以下步骤：

提供一待测芯片，并在所述待测芯片内配置测试单元；

通过所述测试单元对所述待测芯片进行读写预测试，分别获取所述存储芯片在不写入信息时和写入多种预设信息时存储信息的奇偶位数，并根据不同写入状态下获得的所述奇偶位数，相应地设置对照表信息；

测试所述待测芯片在未写入信息时和写入预设信息时的奇偶校验信息；以及

分别对比不写入信息时和写入不同预设信息时的所述奇偶校验信息和对应的所述对照表信息，当任一对处于同一写入状态下的所述奇偶校验信息和所述对照表信息不一致，将所述待测芯片作为废片处理。

2.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，通过所述测试单元对所述待测芯片进行读写预测试的步骤包括：

读取多个所述待测芯片在不写入信息时的存储信息，以及写入所述预设信息时的存储信息，形成预测试数据；以及

统计并筛选所述预测试数据，获得对照表信息。

3.根据权利要求2所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，统计并筛选所述预测试数据的步骤包括：

获取进行预测试的所述待测芯片的样本数量，并将所述待测芯片的样本数量的一半作为筛选阈值；以及

根据所述预测试数据的内容，将所述预测试数据分为多个对照信息类，并获取所述对照信息类的预测试数据条数；以及

当所述预测试数据条数超过所述筛选阈值，将所述对照信息类记录为对照表信息。

4.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，测试所述待测芯片在未写入信息时和写入预设信息时的奇偶校验信息的步骤包括：

读取所述待测芯片的默认存储信息，获取所述默认存储信息的奇偶位数；

对所述待测芯片写入所述预设信息，并读取所述待测芯片的写入后存储信息，获取所述写入后存储信息的奇偶位数；以及

记录所述默认存储信息的奇偶位数和所述写入后存储信息的奇偶位数，作为奇偶校验信息。

5.根据权利要求4所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，写入所述预设信息的步骤包括：

对所述待测芯片写入第一预设信息，获取写入所述第一预设信息的奇偶位数；

复位所述待测芯片，对所述待测芯片写入第二预设信息，并获取所述第二预设信息的奇偶位数。

6.根据权利要求5所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，对所述待测芯片写入第一预设信息的步骤包括：向所述待测芯片发送写入所述第一预设信息的信号和开始使能信号。

7.根据权利要求5所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，复位所述待测芯片的步骤包括：向所述待测芯片发送写入所述第一预设信息的信号和停止使能信号。

8.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，在所述待测芯片内配置测试单元的步骤包括：

在所述待测芯片上预留出配置区域，并所述配置区域上设置奇偶校验单元和校验寄存器；

将所述校验寄存器电性连接于所述奇偶校验单元的输出端；以及

在所述校验寄存器和所述待测芯片之间建立映射关系。

9.根据权利要求8所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，在所述校验寄存器和所述待测芯片之间建立映射关系的步骤包括：

获取所述待测芯片中寄存器和存储器的第一物理地址信息；

获取所述校验寄存器中存储块的第二物理地址信息；以及

关联所述第一物理地址信息和所述第二物理地址信息，并形成映射表信息。

10.一种存储芯片的测试系统，其特征在于，包括：

配置模块，用于在待测芯片内配置测试单元；

预测试模块，用于应用所述测试单元，并对所述待测芯片进行读写预测试，分别获取所述存储芯片在不写入信息时和写入多种预设信息时存储信息的奇偶位数，并根据不同写入状态下获得的所述奇偶位数，相应地设置对照表信息；

读写测试模块，用于测试所述待测芯片在默认状态下、写入第一预设信息的状态下和写入第二预设信息的状态下的奇偶校验信息；以及

对比模块，用于分别对比不写入信息时和写入不同预设信息时的所述奇偶校验信息和对应的所述对照表信息，当任一对处于同一写入状态下的所述奇偶校验信息和所述对照表信息不一致，将所述待测芯片作为废片处理。