[发明专利]一种存储芯片的测试方法及系统

说明书

本发明公开了一种存储芯片的测试方法及系统，所述测试方法至少包括以下步骤：提供一待测芯片，并在所述待测芯片内配置测试单元；通过所述测试单元对所述待测芯片进行读写预测试，获得所述待测芯片在写入多种数据后的存储信息，并将所述待测芯片在写入多种数据后的存储信息作为对照表信息；测试所述待测芯片在未写入信息时和写入预设信息时的奇偶校验信息；以及对比所述奇偶校验信息和所述对照表信息，当所述奇偶校验信息不符合所述对照表信息，将所述待测芯片作为废片处理。本发明提供了一种存储芯片的测试方法及系统，可以快速、低消耗地检测出缺陷芯片。

技术领域

本发明属于存储技术领域，特别涉及一种存储芯片的测试方法及系统。

背景技术

在存储芯片的制造过程中，由于工艺限制会出现残次品。为保证芯片出现的错误在使用时处于可控范围，芯片封装后还需要对芯片进行封装测试，将已制造完成的半导体元件进行结构及电气功能的确认，以保证半导体元件符合客户需求。

在芯片良率要求高的情况下，若是寄存器和随机存取存储器（Random AccessMemory，RAM）的质量达不到标准，会给设备带来随机且不可控的影响。而针对寄存器和随机存取存储器的封装测试繁琐且耗费资源。

发明内容

本发明的目的在于提供一种存储芯片的测试方法及系统，可以快速、低消耗地检测出缺陷芯片。

为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

本发明提供的一种存储芯片的测试方法，至少包括以下步骤：

提供一待测芯片，并在所述待测芯片内配置测试单元；

通过所述测试单元对所述待测芯片进行读写预测试，获得所述待测芯片在写入多种数据后的存储信息，并将所述待测芯片在写入多种数据后的存储信息作为对照表信息；

测试所述待测芯片在未写入信息时和写入预设信息时的奇偶校验信息；以及

对比所述奇偶校验信息和所述对照表信息，当所述奇偶校验信息不符合所述对照表信息，将所述待测芯片作为废片处理。

在本发明一实施例中，通过所述测试单元对所述待测芯片进行读写预测试的步骤包括：

读取多个所述待测芯片在不写入信息时的存储信息，以及写入所述预设信息时的存储信息，形成预测试数据；以及

统计并筛选所述预测试数据，获得对照表信息。

在本发明一实施例中，统计并筛选所述预测试数据的步骤包括：

获取进行预测试的所述待测芯片的样本数量，并将所述待测芯片的样本数量的一半作为筛选阈值；以及

根据所述预测试数据的内容，将所述预测试数据分为多个对照信息类，并获取所述对照信息类的预测试数据条数；以及

当所述预测试数据条数超过所述筛选阈值，将所述对照信息类记录为对照表信息。

在本发明一实施例中，测试所述待测芯片在未写入信息时和写入预设信息时的奇偶校验信息的步骤包括：

读取所述待测芯片的默认存储信息，获取所述默认存储信息的奇偶位数；

对所述待测芯片写入所述预设信息，并读取所述待测芯片的写入后存储信息，获取所述写入后存储信息的奇偶位数；以及

记录所述默认存储信息的奇偶位数和所述写入后存储信息的奇偶位数，作为奇偶校验信息。

在本发明一实施例中，写入所述预设信息的步骤包括：

对所述待测芯片写入第一预设信息，获取写入所述第一预设信息的奇偶位数；