[发明专利]一种存储芯片的测试方法、系统及存储介质

权利要求书

1.一种存储芯片的测试方法，其特征在于，至少包括以下步骤：

提供一待测芯片，并在所述待测芯片上配置测试单元；

获取所述待测芯片的预存储信息，以及写入多种预设信息后的写入存储信息，并将同一批所述待测芯片中表现次数最多的所述预存储信息和所述写入存储信息设置为对照表信息；

向所述待测芯片写入所述预设信息，所述测试单元根据所述待测芯片的器件地址信息，依次读取所述待测芯片的存储数据；

根据所述器件地址信息，依次压缩所述存储数据，获得校验信息；以及

压缩所述对照表信息，并对比所述校验信息和压缩后的所述对照表信息，当所述校验信息与压缩后的所述对照表信息不同时，将所述待测芯片作为废片处理。

2.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，压缩所述存储数据的步骤包括：

判断所述存储数据中，奇数的数量是否小于偶数的数量；

若奇数的数量小于偶数的数量，处理所述存储数据，形成偶数型校验数据；以及

若奇数的数量大于等于偶数的数量，处理所述存储数据，形成奇数型校验数据。

3.根据权利要求2所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，形成所述偶数型校验数据的步骤包括：

去除所述存储数据中的偶数；以及

将处理后的所述存储数据中的首位数设置为偶数标记数据。

4.根据权利要求2所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，形成所述奇数型校验数据的步骤包括：

置反所述存储数据；

去除置反后的所述存储数据中的偶数；以及

将处理后的所述存储数据中的首位数设置为奇数标记数据。

5.根据权利要求3所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，获取校验信息的步骤包括：

判断压缩后的所述存储数据是否为单位数；以及

若压缩后所述存储数据为单位数，则在压缩后的所述存储数据的末位增加末位标记数据。

6.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，在对所述待测芯片写入所述预设信息前，读取所述待测芯片的预存储信息，并获取所述预存储信息的第一校验信息。

7.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，对所述待测芯片写入所述预设信息的步骤包括：

对所述待测芯片写入第一预设信息，并获取第二校验信息；以及

将所述第一预设信息置反，获得第二预设信息，并对所述待测芯片写入所述第二预设信息，获取第二校验信息。

8.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，配置所述测试单元的步骤包括：

在所述待测芯片上设置地址偏移模块、校验模块和数据缓存模块；

将所述待测芯片的寄存器和存储器电性连接于所述地址偏移模块，将所述地址偏移模块电性连接于校验模块；以及

将所述数据缓存模块的输入端电性连接于所述校验模块，将所述数据缓存模块的输出端电性连接于所述地址偏移模块。

9.根据权利要求8所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，读取所述存储数据的步骤包括：

通过所述校验模块，读出所述存储数据，并获取所述寄存器或所述存储器中存储块的器件地址信息；

通过所述校验模块，将所述校验信息和所述器件地址信息存储在所述数据缓存模块中；以及

所述地址偏移模块根据所述器件地址信息的顺序，依次调用所述寄存器和所述存储块，至遍历所述寄存器和所述存储块。