[发明专利]射频器件测试装置和测试系统在审
| 申请号： | 202210952245.9 | 申请日： | 2022-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN115372665A | 公开（公告）日： | 2022-11-22 |
| 发明（设计）人： | 邵伟恒;朱春龙;黄钦文;陈义强 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/00 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 邓丹 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 射频 器件 测试 装置 系统 | ||
1.一种射频器件测试装置，其特征在于，包括电路板、传输线和同轴接头，所述同轴接头包括第一同轴接头和第二同轴接头，所述第一同轴接头和所述第二同轴接头分别焊接在所述电路板两端，且均用于连接矢量网络分析仪；所述传输线包括第一传输线和第二传输线，所述第一传输线一端连接所述第一同轴接头，另一端连接待测射频器件，所述第二传输线一端连接所述第二同轴接头，另一端连接所述待测射频器件，所述电路板为陶瓷电路板。
2.根据权利要求1所述的射频器件测试装置，其特征在于，所述传输线为微带传输线。
3.根据权利要求2所述的射频器件测试装置，其特征在于，所述同轴接头的插针的直径小于所述微带传输线的宽度。
4.根据权利要求1所述的射频器件测试装置，其特征在于，所述第一传输线的长度和所述第二传输线的长度相匹配。
5.根据权利要求1所述的射频器件测试装置，其特征在于，还包括校准装置，所述校准装置用于连接矢量网络分析仪。
6.根据权利要求5所述的射频器件测试装置，其特征在于，所述校准装置包括校准电路板、校准传输线和校准同轴接头，所述校准传输线的两端分别连接不同的校准同轴接头，所述校准同轴接头焊接于所述校准电路板，并用于连接矢量网络分析仪。
7.根据权利要求5所述的射频器件测试装置，其特征在于，所述校准装置包括直通校准件、反射校准件和延迟线校准件，所述直通校准件的两端、所述反射校准件的两端和所述延迟线校准件的两端分别通过不同的通道连接所述矢量网络分析仪。
8.根据权利要求7所述的射频器件测试装置，其特征在于，所述延迟线校准件的数量为两个以上。
9.一种射频器件测试系统，其特征在于，包括矢量网络分析仪和如权利要求1-8任一项所述的射频器件测试装置。
10.根据权利要求9所述的射频器件测试系统，其特征在于，所述射频器件测试装置的阻抗与所述矢量网络分析仪的阻抗相匹配。
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