[发明专利]射频器件测试装置和测试系统

说明书

本申请涉及一种射频器件测试装置和测试系统，包括电路板、传输线和同轴接头，同轴接头包括第一同轴接头和第二同轴接头，第一同轴接头和第二同轴接头分别焊接在电路板两端，且均用于连接矢量网络分析仪；传输线包括第一传输线和第二传输线，第一传输线一端连接第一同轴接头，另一端连接待测射频器件，第二传输线一端连接第二同轴接头，另一端连接待测射频器件，电路板为陶瓷电路板。可以实现高低温情况下对射频器件的可靠性测试。

技术领域

本申请涉及射频微波器件测试技术领域，特别是涉及一种射频器件测试装置和测试系统。

背景技术

随着5G移动通信技术的发展，无线通信向更高频段扩展，基于BAW(Bulk AcousticWave,体声波)技术的射频器件在当前无线通信向更高频段发展中起着举足轻重的作用。但是在高输入功率水平下，由于材料固有的非线性特性、几何非线性和接触面非线性等因素，通常会导致声学器件中的谐波和互调失真等非线性效应，射频器件的自热导致的温度升高也会使射频器件产生非线性特性，对系统的工作的可靠性产生影响。因此，为了保证射频器件在一定工况下能够长期稳定工作，在器件正式商用前对射频器件进行一系列可靠性测试是必要的。

传统的对射频器件进行可靠性测试的方法是，采用射频探针台连接射频器件和矢量网络分析仪来测试射频器件的可靠性，但是，射频探针台的探针正常工作的温度范围较小，在高低温情况下射频探针台的探针功率无法达到射频器件工作频率，导致在高低温情况下无法对射频器件进行可靠性测试。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够在高低温情况下对射频器件进行可靠性测试的射频器件测试装置和测试系统。

第一方面，提供一种射频器件测试装置，包括电路板、传输线和同轴接头，同轴接头包括第一同轴接头和第二同轴接头，第一同轴接头和所述第二同轴接头分别焊接在所述电路板两端，且均用于连接矢量网络分析仪；传输线包括第一传输线和第二传输线，第一传输线一端连接第一同轴接头，另一端连接待测射频器件，第二传输线一端连接所述第二同轴接头，另一端连接待测射频器件，电路板为陶瓷电路板。

在其中一个实施例中，所述传输线为微带传输线。

在其中一个实施例中，所述同轴接头的插针的直径小于所述微带传输线的宽度。

在其中一个实施例中，所述第一传输线和所述第二传输线的长度相匹配。在其中一个实施例中，射频器件测试装置还包括校准装置，所述校准装置用于连接矢量网络分析仪。

在其中一个实施例中，所述校准装置包括校准电路板、校准传输线和校准同轴接头，所述校准传输线的两端分别连接不同的校准同轴接头，所述校准同轴接头焊接于所述校准电路板，并用于连接矢量网络分析仪。

在其中一个实施例中，所述校准装置包括直通校准件、反射校准件和延迟线校准件，所述直通校准件的两端、所述反射校准件的两端和所述延迟线校准件的两端分别通过不同的通道连接所述矢量网络分析仪。

在其中一个实施例中，所述延迟线校准件的数量为两个以上。

第二方面，提供一种射频器件测试系统，包括矢量网络分析仪和如上述的射频器件测试装置。

在其中一个实施例中，所述射频器件测试装置的阻抗与所述矢量网络分析仪的阻抗相匹配。