[发明专利]一种开短路测试装置

权利要求书

1.一种开短路测试装置，用于对目标芯片的所有引脚进行开短路测试，每个所述引脚连接第一二极管的阳极和第二二极管的阴极，所述第一二极管的阴极连接所述目标芯片的电源端，所述第二二极管的阳极连接所述目标芯片的地端，其特征在于，所述开短路测试装置至少包括第一控制模块、第一电流模块、第一测量模块和第一切换模块，所述第一控制模块、所述第一电流模块和所述第一测量模块之间互相电连接；

所述第一控制模块还与所述目标芯片连接，用于对所述目标芯片的所有引脚进行寻址确认，以获得每个所述引脚对应的引脚地址，以及根据所述引脚地址从所述目标芯片依次选择待测引脚；

所述第一电流模块还与所述第一切换模块连接，所述第一切换模块在第一状态和第二状态之间切换，当所述第一切换模块切换成所述第一状态时，所述第一电流模块输出第一方向的测试电流，所述第一电流模块输出的测试电流经所述待测引脚的第一二极管、所述目标芯片的电源端形成通路，当所述第一切换模块切换成所述第二状态时，所述第一电流模块输出第二方向的测试电流，所述第一电流模块输出的测试电流经所述目标芯片的地端、所述待测引脚的第二二极管、所述第一电流模块形成通路；

所述第一测量模块，用于测量获得所述待测引脚的第一二极管的第一偏差电压和所述待测引脚的第二二极管的第二偏差电压；

所述第一控制模块，还用于根据所述第一偏差电压和所述第二偏差电压判断所述待测引脚是否开短路。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：

所述第一控制模块与所述目标芯片的逻辑地址控制引脚连接，用于确认所述目标芯片的每个所述引脚对应的引脚地址，以及用于通过向所述目标芯片的逻辑地址控制引脚输出待测引脚的引脚地址，以选择所述待测引脚。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于：

所述第一控制模块与电路板连接，用于向所述电路板输出芯片使能信号，以从所述电路板的芯片中选择所述目标芯片。

4.根据权利要求1至3任一项所述的装置，其特征在于：

所述第一电流模块包括第一通用输入输出引脚和第二通用输入输出引脚；

所述第二通用输入输出引脚与所述第一切换模块的输入端连接；

当所述第一切换模块切换成所述第一状态时，所述第一通用输入输出引脚与所述待测引脚的第一二极管的阳极连接，所述第一切换模块的第一状态输出端与所述待测引脚的第一二极管的阴极连接，所述第一切换模块的第一状态输出端与所述第一切换模块的第一状态对应；

当所述第一切换模块切换成所述第二状态时，所述第一通用输入输出引脚与所述待测引脚的第二二极管的阴极连接，所述第一切换模块的第二状态输出端与所述待测引脚的第二二极管的阳极连接，所述第一切换模块的第二状态输出端与所述第一切换模块的第二状态对应。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于：

所述第一测量模块包括第一模数转换引脚和第二模数转换引脚，所述第二模数转换引脚连接至所述第一切换模块的输入端；

当所述第一切换模块切换成所述第一状态时，所述第一模数转换引脚连接至所述待测引脚的第一二极管的阳极，用于测量所述第一二极管的阳极所在位置的电压，所述第二模数转换引脚用于测量所述第一二极管的阴极所在位置的电压；

当所述第一切换模块切换成所述第二状态时，所述第一模数转换引脚连接至所述待测引脚的第二二极管的阴极，用于测量所述第二二极管的阴极所在位置的电压，所述第二模数转换引脚用于测量所述第二二极管的阳极所在位置的电压。