[发明专利]拾取装置和晶片拾取机构

权利要求书

1.一种拾取装置，其特征在于，包括：

支架(10)，所述支架(10)包括第一安装部(11)和第二安装部(12)；

驱动部件(20)，所述驱动部件(20)设置于所述第一安装部(11)；

第一磁性部件(30)，所述驱动部件(20)与所述第一磁性部件(30)传动连接，以驱动所述第一磁性部件(30)旋转；以及

吸附旋柱(40)，所述吸附旋柱(40)设置于所述第二安装部(12)，并能够相对所述支架(10)绕自身中心轴旋转；所述吸附旋柱(40)包括吸嘴杆(41)和固定于所述吸嘴杆(41)上的第二磁性部件(42)，所述吸嘴杆(41)用于拾取工件，所述第二磁性部件(42)位于所述第一磁性部件(30)一侧，并与所述第一磁性部件(30)间隔设置，所述第一磁性部件(30)通过非接触力磁耦合效应带动所述第二磁性部件(42)绕自身中心轴旋转。

2.根据权利要求1所述的拾取装置，其特征在于，所述第一安装部(11)为安装平板，且所述安装平板上开设有传动轴孔(111)，所述驱动部件(20)位于所述安装平板上侧，所述第一磁性部件(30)位于所述安装平板下侧，所述驱动部件(20)的传动轴穿过所述传动轴孔(111)与所述第一磁性部件(30)传动连接。

3.根据权利要求1所述的拾取装置，其特征在于，所述第二安装部(12)为旋转轴孔，所述吸嘴杆(41)穿设于所述旋转轴孔，并与所述旋转轴孔间隙配合。

4.根据权利要求1所述的拾取装置，其特征在于，所述第一磁性部件(30)和所述第二磁性部件(42)均呈圆柱状，所述第一磁性部件(30)的直径为所述第二磁性部件(42)的直径的2-4倍。

5.根据权利要求4所述的拾取装置，其特征在于，所述第二磁性部件(42)的具有中心配合孔(421)，所述吸嘴杆(41)穿设于所述中心配合孔(421)，并与所述中心配合孔(421)过盈配合。

6.根据权利要求1-5任一项所述的拾取装置，其特征在于，所述吸嘴杆(41)包括杆本体(411)和固定于所述杆本体(411)上的限位环(412)，所述限位环(412)与所述杆本体(411)同轴设置，所述第二磁性部件(42)位于所述限位环(412)上侧。

7.根据权利要求6所述的拾取装置，其特征在于，所述第二安装部(12)为旋转轴孔，所述吸嘴杆(41)穿设于所述旋转轴孔；

所述旋转轴孔的上侧开设有真空吸附槽(121)，所述限位环(412)覆盖与所述真空吸附槽(121)的槽口位置，所述真空吸附槽(121)的底壁和/或侧壁具有用于连通抽真空设备的抽吸孔。

8.根据权利要求7所述的拾取装置，其特征在于，所述真空吸附槽(121)的周围设置有用于与所述限位环(412)密封配合的密封垫，所述密封垫支撑所述限位环(412)。

9.一种晶片拾取机构，其特征在于，包括：安装台(50)、设置于所述安装台(50)上的水平移动组件(60)、设置于所述水平移动组件(60)上的竖直移动组件(70)以及设置于所述竖直移动组件(70)上的拾取装置，所述拾取装置为如权利要求1-8任一项所述的拾取装置；

所述水平移动组件(60)能够驱动所述竖直移动组件(70)在水平方向往复移动，所述竖直移动组件(70)能够驱动所述拾取装置在竖直方向上往复移动。

10.根据权利要求9所述的晶片拾取机构，其特征在于，所述竖直移动组件(70)设置有漏晶检测装置(80)，所述漏晶检测装置(80)用于检测所述拾取装置是否拾取到工件。